W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Rozdział

Pobierz BibTeX

Tytuł

Convolutional Compaction-Based MRAM Fault Diagnosis

Autorzy

[ 1 ] Wydział Informatyki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ 2 ] Instytut Radiokomunikacji, Wydział Informatyki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Dyscyplina naukowa (Ustawa 2.0)

[2.3] Informatyka techniczna i telekomunikacja

Rok publikacji

2021

Typ rozdziału

rozdział w monografii naukowej / referat

Język publikacji

polski

Słowa kluczowe
EN
  • convolutional compaction
  • DFT
  • fault diagnosis
  • memory built-in self-test
  • MRAM
  • STT-MRAM
DOI

10.1109/ETS50041.2021.9465464

URL

https://ieeexplore.ieee.org/document/9465464

Książka

IEEE European Test Symposium (ETS) 2021

Zaprezentowany na

IEEE European Test Symposium (ETS 2021), 24-28.05.2021, Bruges, Belgium

Punktacja Ministerstwa / rozdział

20

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.