SIN PP | Grzegorz Mrugalski

PL EN

Strona główna / Ludzie / Grzegorz Mrugalski

Były pracownik Politechniki Poznańskiej

Wszystkie publikacje

1.

X-masking for Deterministic In-System Tests / Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2023, vol. 42, iss. 11, s. 4260-4269

Artykuł naukowy 100 2,9
2.

LBIST for Automotive ICs with Enhanced Test Generation / Bartosz Kaczmarek, Grzegorz Mrugalski, Nilanjan Mukherjee, Artur Pogiel, Janusz Rajski, Łukasz Rybak, Jerzy Tyszer (WIiT) // IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2022, vol. 41, no. 7, s. 2290-2300

Artykuł naukowy 100 2,9
3.

Autonomous Scan Patterns for Laser Voltage Imaging / Jerzy Tyszer (WIiT), Wu-Tung Cheng, Sylwester Milewski (WIiT), Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Maciej Trawka // IEEE Transactions on Emerging Topics in Computing - 2021, vol. 9, no. 2, s. 680-691

Artykuł naukowy 140 6,595
4.

X-Tolerant Compactor maXpress for In-System Test Applications with Observation Scan / Yingdi Liu, Sylwester Milewski (WIiT), Grzegorz Mrugalski, Nilanjan Mukherje, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems - 2021, vol. 29, no. 8, s. 1553-1566

Artykuł naukowy 100 2,775
5.

Scan integrity tests for EDT compression / Wu-Tung Cheng, Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Maciej Trawka, Jerzy Tyszer (WIiT) // IEEE Design & Test - 2020, vol. 37, iss. 4, s. 21-26

Artykuł naukowy 70 1,527

1.

DIST: Deterministic In-System Test with X-masking / Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // W: 2022 IEEE International Test Conference. ITC 2022. Proceedings: Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc, 2022 - s. 20-27

Rozdział w monografii naukowej / referat 20 70
2.

X-Masking for In-System Deterministic Test / Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // W: Proceedings of the IEEE European Test Symposium 2022: IEEE, 2022 - s. [1]-[6]

Rozdział w monografii naukowej / referat 20
3.

Test Sequence-Optimized BIST for Automotive Applications / Bartosz Kaczmarek, Grzegorz Mrugalski, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Łukasz Rybak, Jerzy Tyszer (WIiT) // W: IEEE European Test Symposium (ETS) 2020: IEEE, 2020

Rozdział w monografii naukowej / referat 20
4.

X-Tolerant Tunable Compactor for In-System Test / Yingdi Liu, Sylwester Milewski, Grzegorz Mrugalski, Nilanjan Mukherje, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // W: IEEE International Test Conference (ITC) 2020: IEEE, 2020

Rozdział w monografii naukowej / referat 20 70
5.

On cyclic scan integrity tests for EDT-based compression / Wu-Tung Cheng, Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Maciej Trawka, Jerzy Tyszer (WEiT) // W: IEEE 37th VLSI Test Symposium (VTS 2019): IEEE, 2019

Rozdział w monografii naukowej / referat 20

1.

Układy cyfrowe : zbiór zadań z rozwiązaniami / Jerzy Tyszer (WE), Grzegorz Mrugalski (WE) / Poznań, Polska : Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, 2004 - 266 s.

Podręcznik akademicki / skrypt
2.

Układy cyfrowe : zbiór zadań z rozwiązaniami / Jerzy Tyszer (WE), Grzegorz Mrugalski (WE) / Poznań, Polska : Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, 2002 - 266 s.

Podręcznik akademicki / skrypt

1.

Test Pattern Generators for Very Large Scale Integration Digital Circuits / Grzegorz Mrugalski (WE) / prom. Jerzy Tyszer (WE), rec. Andrzej Dobrogowski (WE), Stanisław Piestrak - Poznań, Polska, 2002 - 149 s.

Rozprawa doktorska

1.

Optimizing test patterns for VLSI digital circuits / WI / prom. Grzegorz Mrugalski, rec. Jerzy Tyszer, 2018

Praca magisterska

1.

Trajectory-Optimized Test Pattern Generation for Built-In Self-Test / Jerzy Tyszer (WIiT), Janusz Rajski, Grzegorz Mrugalski, Łukasz Rybak, Nilanjan Mukherjee // 3/Z/2023

Wynalazek
2.

Universal compactor architecture for testing circuits / Jerzy Tyszer (WIiT), Yingdi Liu, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Grzegorz Mrugalski, Bartosz Włodarczak (WIiT) // Z/11/2023

Wynalazek
3.

MULTI-STAGE TEST RESPONSE COMPACTORS / Jerzy Tyszer (WIiT), Janusz Rajski, Grzegorz Mrugalski, Mark Kassab, Wu-Tung Cheng // 0057

Wynalazek
4.

Deterministic Built-In Self-Test / Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Łukasz Rybak, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WIiT) // 0085

Wynalazek
5.

Multi-stage test response compactors / Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT), Grzegorz Mrugalski, Mark Kassab, Wu-Tung Cheng // 0099

Wynalazek

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN