Tytuł
Skaningowa mikroskopia próbnikowa - uniwersalne narzędzie nanotechnologa
Autorzy
[ 1 ] Instytut Fizyki, Wydział Fizyki Technicznej, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik
Rok publikacji
2013
Typ rozdziału
abstrakt
Język publikacji
polski
Strony (od-do)
91 - 91
Zaprezentowany na
Ten serwis działa dzięki oprogramowaniu SINUS
opracowanemu przez Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN