Nazwa
2016 IEEE 25th Asian Test Symposium (ATS)
Data konferencji
21-24.11.2016
Miejsce
Hiroshima, Japan
Rodzaj konferencji
międzynarodowa
W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.
Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.
21-24.11.2016
Hiroshima, Japan
międzynarodowa
Referat