SIN PP | Kongres Metrologii: : Metrologia - narzędzie poznania i droga rozwoju

PL EN

Strona główna / Konferencje / Kongres Metrologii: : Metrologia - narzędzie poznania i droga rozwoju

Konferencja

Nazwa

Data konferencji

9-13.09.2007

Miejsce

Kraków, Polska

Organizator

Katedra Metrologii Akademii Górniczo-Hutniczej w Krakowie

1.

Pomiary charakterystyki prądowo-napięciowej nanodrutów / Maciej Wawrzyniak (WEiT) // Pomiary Automatyka Kontrola - 2007, nr 9

Artykuł naukowy
2.

Algorytmy CAV i MAV filtracji sygnałów kwantowanych ditherem / Anna Domańska (WEiT) // Pomiary Automatyka Kontrola - 2007, nr 9, s. 119-122

Artykuł naukowy
3.

Symulacja obwodu z kwantowaną przewodnością / Sławomir Michalak (WEiT) // Pomiary Automatyka Kontrola - 2007, nr 9

Artykuł naukowy
4.

Źródło światła z matrycą diod superelektroluminescencyjnych (SLED) dla celów pomiarowych / Andrzej Odon (WE), Zbigniew Krawiecki (WE) // Pomiary Automatyka Kontrola - 2007, nr 9, s. 332-335

Artykuł naukowy

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN