SIN PP | Metrologiczna analiza dyskretyzacji na współrzędnościowych maszynach pomiarowych i modelowania w systemie CAD wybranych elementów w procesie inżynierii odwrotnej

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

PL EN

Strona główna / Rozprawy doktorskie / Metrologiczna analiza dyskretyzacji na współrzędnościowych maszynach pomiarowych i modelowania w systemie CAD wybranych elementów w procesie inżynierii odwrotnej

Zgłoś uwagę

Rozprawa doktorska

Pobierz BibTeX

Tytuł

Metrologiczna analiza dyskretyzacji na współrzędnościowych maszynach pomiarowych i modelowania w systemie CAD wybranych elementów w procesie inżynierii odwrotnej

Autorzy

Maciej Szelewski (WMRiT) ^{[ 1 ][ P ]}

^{[ 1 ]} Katedra Podstaw Konstrukcji Maszyn, Wydział Maszyn Roboczych i Transportu, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} pracownik

Promotor

Jan Chajda (WBMiZ) ^{[ 1 ][ P ]}

^{[ 1 ]} Instytut Technologii Mechanicznej, Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} pracownik

Recenzenci

Józef Gawlik
Zenobia Weiss (WBMiZ) ^{[ 1 ]}

^{[ 1 ]} Instytut Technologii Mechanicznej, Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania, Politechnika Poznańska

Wariant tytułu

EN Metrological Analysis of Digitization with Coordinate Measuring Machines and CAD Modelling of the Chosen Details in the Reverse Engineering Process

Język

polski

Liczba stron

135

Sygnatura rozprawy w wersji drukowanej

DrOIN 1142

Katalog on-line

to200950519

Pierwsza recenzja

Józef Gawlik

Miejsce

Kraków, Polska

Data

24.01.2009

Język

polski

Druga recenzja

Zenobia Weiss

Miejsce

Poznań, Polska

Data

30.01.2009

Język

polski

Status rozprawy

rozprawa doktorska

Miejsce obrony

Poznań, Polska

Data obrony

08.04.2009

Jednostka nadająca tytuł

Rada Wydziału Budowy Maszyn i Zarządzania Politechniki Poznańskiej

Uzyskany tytuł

doktor nauk technicznych w dyscyplinie: budowa i eksploatacja maszyn

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN