Tytuł
Metrology and Standardization for Nanotechnology : Protocols and Industrial Innovations
Redaktorzy
Rok publikacji
2017
Typ książki
monografia naukowa
Język publikacji
angielski
Wydawca
Wydawca z listy Ministerstwa
Wiley-VCH
Data opublikowania
2017
Liczba stron
626
ISBN
978-3-527-34039-2
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN