Wrażliwość odpowiedzi na skok jednostkowy na zmiany parametrów RLC połączeń w układach VLSI

Agnieszka Wardzińska; Wojciech Bandurski

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

PL EN

Strona główna / Publikacje / Wrażliwość odpowiedzi na skok jednostkowy na zmiany parametrów RLC połączeń w układach VLSI

Zgłoś uwagę

Artykuł

Pobierz BibTeX

Tytuł

Wrażliwość odpowiedzi na skok jednostkowy na zmiany parametrów RLC połączeń w układach VLSI

Autorzy

Agnieszka Wardzińska (WEiT) ^{[ 1 ][ P ]}
Wojciech Bandurski (WEiT) ^{[ 1 ][ P ]}

^{[ 1 ]} Katedra Telekomunikacji Multimedialnej i Mikroelektroniki, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} pracownik

Rok publikacji

2010

Opublikowano w

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

Rocznik: 2010 | Numer: nr 12

Typ artykułu

artykuł naukowy

Język publikacji

polski

Strony (od-do)

71 - 74

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN