Tytuł
IEEE 36th VLSI Test Symposium (VTS 2018)
Rok publikacji
2018
Typ książki
książka pod redakcją
Język publikacji
angielski
Wydawca
Wydawca z listy Ministerstwa
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Data opublikowania
2018
ISBN
978-1-5386-3773-9
eISBN
978-1-5386-3774-6
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN