Przetwarzanie może potrwać kilka sekund...

Rozdział

Tytuł

Improving Defect Localization by Classifying the Affected Asset Using Machine Learning

Autorzy

[ 1 ] Instytut Informatyki, Wydział Informatyki, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Dyscyplina naukowa (Ustawa 2.0)

[2.3] Informatyka techniczna i telekomunikacja

Rok publikacji

2019

Typ rozdziału

rozdział w monografii naukowej / referat

Język publikacji

angielski

Słowa kluczowe
EN
  • defect localization
  • machine learning
  • case study
Data udostępnienia online

11.12.2018

Strony (od-do)

106 - 122

URL

https://link.springer.com/chapter/10.1007/978-3-030-05767-1_8

Książka

Software Quality: The Complexity and Challenges of Software Engineering and Software Quality in the Cloud : 11th International Conference, SWQD 2019, Vienna, Austria, January 15–18, 2019, Proceedings

Zaprezentowany na

11th International Conference, SWQD 2019, 15-18.01.2019, Vienna, Austria

Punktacja MNiSW / rozdział

20