Przetwarzanie może potrwać kilka sekund...

Rozdział

Tytuł

Deep F-Measure Maximization in Multi-label Classification: A Comparative Study

Autorzy

[ 1 ] Instytut Informatyki, Wydział Informatyki, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Dyscyplina naukowa (Ustawa 2.0)

[2.3] Informatyka techniczna i telekomunikacja

Rok publikacji

2019

Typ rozdziału

rozdział w monografii naukowej / referat

Język publikacji

angielski

Słowa kluczowe
EN
  • Fβ-measure
  • bayes optimal classification multi-label image classification
  • convolutional neural networks
Strony (od-do)

290 - 305

DOI

10.1007/978-3-030-10925-7_18

URL

https://link.springer.com/content/pdf/10.1007%2F978-3-030-10925-7_18.pdf

Książka

Machine Learning and Knowledge Discovery in Databases : European Conference, ECML PKDD 2018, Dublin, Ireland, September 10–14, 2018Proceedings, Part I

Zaprezentowany na

European Conference, ECML PKDD 2018, 10-14.09.2018, Dublin, Ireland