W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Artykuł

Pobierz BibTeX

Tytuł

Probe capacitance-dependent systematic error in I-V measurements of nanowires : analysis and correction

Autorzy

[ 1 ] Katedra Systemów Telekomunikacyjnych i Optoelektroniki, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Rok publikacji

2008

Opublikowano w

Metrology and Measurement Systems

Rocznik: 2008 | Tom: vol. 14 | Numer: no. 3

Typ artykułu

artykuł naukowy

Język publikacji

angielski

Strony (od-do)

391 - 408

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.