W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

PL EN
PL EN
Strona główna / Publikacje / Proceedings of the IEEE International Test Conference 2021
Zgłoś uwagę

Książka

Pobierz BibTeX

Tytuł

Proceedings of the IEEE International Test Conference 2021

Rok publikacji

2021

Typ książki

monografia naukowa / materiały konferencyjne

Język publikacji

angielski

Wydawca

IEEE

Wydawca z listy Ministerstwa

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Data opublikowania

2021

Liczba stron

421

ISBN

978-1-6654-1695-5

DOI

10.1109/ITC50571.2021

URL

https://ieeexplore.ieee.org/xpl/conhome/9611037/proceeding

Rozdziały
On Reduction of Deterministic Test Pattern Sets (s. 260-267)
Konferencja

2021 IEEE International Test Conference (ITC), 10-15.10.2021, Anaheim, United States

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Szanowni Państwo,

w PBN 26.06.24 zaktualizowana została punktacja czasopism (zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5.01.24).
Nadal jednak nie zaktualizowano punktacji konferencji – co więcej, nie jest znany nawet przybliżony termin wdrożenia tej części Wykazu. Widoczna w SIN punktacja jest odzwierciedleniem punktacji w PBN (wymuszają to procedury przesyłu danych o publikacjach), zatem punkty za konferencje widoczne w SIN będą mogły zostać zmienione, dopiero gdy zostaną zaktualizowane w PBN.

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.