W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Książka

Pobierz BibTeX

Tytuł

Proceedings of the IEEE International Test Conference 2021

Rok publikacji

2021

Typ książki

monografia naukowa / materiały konferencyjne

Język publikacji

angielski

Wydawca

IEEE

Wydawca z listy Ministerstwa

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Data opublikowania

2021

Liczba stron

421

ISBN

978-1-6654-1695-5

DOI

10.1109/ITC50571.2021

URL

https://ieeexplore.ieee.org/xpl/conhome/9611037/proceeding

Rozdziały
On Reduction of Deterministic Test Pattern Sets (s. 260-267)
Konferencja

2021 IEEE International Test Conference (ITC), 10-15.10.2021, Anaheim, United States

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.