Tytuł
Metrologia w procesie poznania : Kongres Metrologii KM, Wrocław, 6-9.09.2004
Redaktorzy
Rok publikacji
2004
Typ książki
materiały konferencyjne
Język publikacji
polski
Miejsce
Wrocław, Polska
Data opublikowania
2004
Rozdziały
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN