W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

PL EN
PL EN
Strona główna / Publikacje / System pomiarowy do badania trwałości nanodrutów
Zgłoś uwagę

Rozdział

Pobierz BibTeX

Tytuł

System pomiarowy do badania trwałości nanodrutów

Autorzy

[ 1 ] Instytut Elektroniki i Telekomunikacji (IEt), Wydział Elektryczny, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Rok publikacji

2001

Typ rozdziału

referat

Język publikacji

polski

Strony (od-do)

35 - 38

Książka

Metrologia u progu Trzeciego Millenium : Krajowy Kongres Metrologii, Warszawa 24-27 czerwca 2001 r. : KKM 2001 : materiały kongresu. T. 1

Zaprezentowany na

Krajowy kongres metrologii: metrologia u progu trzeciego millenium, KKM 2001, 24-27.06.2001, Warszawa, Polska

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Szanowni Państwo,

w PBN 26.06.24 zaktualizowana została punktacja czasopism (zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5.01.24).
Nadal jednak nie zaktualizowano punktacji konferencji – co więcej, nie jest znany nawet przybliżony termin wdrożenia tej części Wykazu. Widoczna w SIN punktacja jest odzwierciedleniem punktacji w PBN (wymuszają to procedury przesyłu danych o publikacjach), zatem punkty za konferencje widoczne w SIN będą mogły zostać zmienione, dopiero gdy zostaną zaktualizowane w PBN.

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.