Tytuł
Rentgenowskie pomiary grubości bardzo cienkich warstw
Autorzy
[ 1 ] Instytut Inżynierii Materiałowej, Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik
Rok publikacji
2005
Opublikowano w
Typ artykułu
artykuł naukowy
Język publikacji
polski
Strony (od-do)
6
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN