Tytuł
Zastosowanie pomiarów bezstykowych i stykowych do analizy powierzchni szkliwa - doniesienie wstępne
Autorzy
[ 1 ] Instytut Technologii Mechanicznej, Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik
Rok publikacji
2002
Opublikowano w
Typ artykułu
artykuł naukowy
Język publikacji
polski
Strony (od-do)
147 - 152
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN