Nazwa
2016 IEEE International Test Conference (ITC)
Data konferencji
15-17.11.2016
Miejsce
Houston, USA
Rodzaj konferencji
międzynarodowa
W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.
Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.
15-17.11.2016
Houston, USA
międzynarodowa