W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Książka

Pobierz BibTeX

Tytuł

2016 IEEE International Test Conference (ITC)

Rok publikacji

2016

Język publikacji

angielski

Data opublikowania

2016

Rozdziały
Minimal area test points for deterministic patterns (s. 1-7)
Test point insertion in hybrid test compression/LBIST architectures (s. 1-10)
Konferencja

2016 IEEE International Test Conference (ITC), 15-17.11.2016, Houston, USA

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.