Tytuł
2016 IEEE International Test Conference (ITC)
Rok publikacji
2016
Typ książki
materiały konferencyjne
Język publikacji
angielski
Wydawca
Wydawca z listy Ministerstwa
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Data opublikowania
2016
ISBN
978-1-4673-8773-6
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN