Przetwarzanie może potrwać kilka sekund...

Rozprawa doktorska

Tytuł

Analiza problemów metrologicznych związanych z wykorzystaniem przetwornika CCD do detekcji promieniowania emitowanego przez matrycę LED

Autorzy

[ 1 ] Instytut Elektrotechniki i Elektroniki Przemysłowej, Wydział Elektryczny, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Promotor

[ 1 ] Instytut Elektrotechniki i Elektroniki Przemysłowej, Wydział Elektryczny, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Recenzenci

[ 1 ] Instytut Elektrotechniki i Elektroniki Przemysłowej, Wydział Elektryczny, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Wariant tytułu

EN The metrological analysis of problems related to using the CCD sensor to detection of the radiation emitted by a LED matrix

Język

polski

Słowa kluczowe
PL
  • dioda elektroluminescencyjna
  • matryca LED
  • przetwornik CCD
  • detekcja promieniowania widzialnego
EN
  • electroluminescence diode
  • LED matrix
  • CCD sensor
  • detection of visible radiation
Streszczenie

PL Tematyka pracy dotyczy interdyscyplinarnego obszaru badań związanego z obserwacją i akwizycją promieniowania emitowanego przez LED za pomocą kamery CCD. W pracy omówiono charakter zjawisk luminescencyjnych, podstawy fizyczne działania diod LED i przetworników CCD oraz zaprezentowano ich obecne zastosowania. Przeanalizowano ograniczenia procesu rejestracji zjawisk luminescencyjnych wynikające z charakteru tych zjawisk oraz budowy przetwornika CCD. Omówiono problemy metrologiczne występujące w pomiarach przeprowadzanych na potrzeby określonych aplikacji. Zaprezentowano pomiarowy model detekcji promieniowania elektroluminescencyjnego w układzie: matryca LED – przetwornik CCD oraz dokonano oceny niedokładności uzyskanego wyniku pomiaru. W pracy zawarto wyniki pomiarów związanych ze sprawdzaniem jednorodności i natężenia promieniowania emitowanego przez diody LED oraz dotyczące badań wpływu temperatury na przetwornik CCD. Na podstawie uzyskanych wyników określono zależność między natężeniem promieniowania pochodzącego z diod LED a wartością otrzymaną z zarejestrowanego obrazu.

EN The subject of the work concerns the interdisciplinary area of the research related to the observation and aquisition of the radiation emitted by LED using the CCD camera. In the work, the nature of luminescent phenomena, physical basis of the operation of LEDs and CCDs are discussed, and their present applications are shown. The limitations with the registration process of the luminescent phenomena, which result from the nature of these phenomena and the structures of CCD devices have been analyzed. The metrological problems appearing in the measurements conducted for specific applications were discussed. The measuring model of electroluminescence radiation detection by a set: LED matrix  CCD device and the evaluation of uncertainty of measurement results are presented. The work contains the results of the measurements related to the uniformity and intensity of the radiation emitted by LEDs and the results of evaluation of temperature influence on CCD devices are included. On the basis of the obtained results, the relationship between the intensity of radiation emitted by LEDs and the value getting from the registered images have been established.

Liczba stron

148

Dziedzina wg OECD

elektrotechnika, elektronika, inżynieria informatyczna

Dyscyplina wg KBN

elektrotechnika

Sygnatura rozprawy w wersji drukowanej

DrOIN 1639

Katalog on-line

to201580736

Pełny tekst rozprawy doktorskiej

Pobierz plik

Poziom dostępu do pełnego tekstu

publiczny

Pierwsza recenzja

Jan Dorosz

Miejsce

Białystok, Polska

Data

22.06.2014

Język

polski

Tekst recenzji

Pobierz plik

Poziom dostępu do recenzji

publiczny

Druga recenzja

Ryszard Nawrowski

Miejsce

Poznań, Polska

Data

28.07.2014

Język

polski

Tekst recenzji

Pobierz plik

Poziom dostępu do recenzji

publiczny

Status rozprawy

rozprawa doktorska

Miejsce obrony

Poznań, Polska

Data obrony

26.09.2014

Jednostka nadająca tytuł

Rada Wydziału Elektrycznego Politechniki Poznańskiej

Uzyskany tytuł

doktor nauk technicznych w dyscyplinie: elektrotechnika, w specjalności: metrologia optoelektroniczna