Depending on the amount of data to process, file generation may take longer.

If it takes too long to generate, you can limit the data by, for example, reducing the range of years.

Menu

PL EN
PL EN
Main page / Conferences / III International Conference on Advantages in Processing Testing and Application of Dielectric Materials, APTADM 2007

Conference
Name

III International Conference on Advantages in Processing Testing and Application of Dielectric Materials, APTADM 2007

Short name

EN APTADM 2007

Conference date

26-28.09.2007

Place

Wrocław, Poland

Conference type

international

Journal numbers

System created by Poznań University of Technology and Poznan Supercomputing and Networking Center
Szanowni Państwo,

w SIN zaktualizowana została punktacja czasopism zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5. stycznia 2024 r.
Stało się to możliwe dopiero teraz, ponieważ, jak wcześniej Państwa informowaliśmy, SIN jest w tym zakresie zintegrowany z PBN (co wynika z procedur przesyłu danych o publikacjach) – a w PBN zmiany punktacji wdrożono dopiero 26.06.2024.

W SIN trwają obecnie prace nad zaktualizowaniem wartości Impact Factor (oraz wartości percentyli).
This website uses cookies to remember the authenticated session of the user. For more information, read about Cookies and Privacy Policy.