Depending on the amount of data to process, file generation may take longer.

If it takes too long to generate, you can limit the data by, for example, reducing the range of years.

Menu

PL EN
PL EN
Main page / Journals / IEEE Design & Test

Journal
Title

IEEE Design & Test

Additional title

EN IEEE Design and Test

Scientific disciplines (Law 2.0)

1.2 Ethnology and cultural anthropology
2.1 Architecture and urban planning
2.2 Automation, electronics, electrical engineering and space technologies
2.3 Information and communication technology
2.5 Biomedical engineering
7.3 Computer and information sciences
Journal unique ID

7887

Publisher name

IEEE

ISSN

2168-2356

eISSN

2168-2364

Comments

Inna forma tytułu: IEEE Design and Test

Current scoring

70

Journal years

  • Journal year Ministry points Impact Factor
  • 2016 30 1,366
  • 2020 70 1,527
  • 2024 70 1,9 [List 2023]
System created by Poznań University of Technology and Poznan Supercomputing and Networking Center
Szanowni Państwo,

w PBN 26.06.24 zaktualizowana została punktacja czasopism (zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5.01.24).
Nadal jednak nie zaktualizowano punktacji konferencji – co więcej, nie jest znany nawet przybliżony termin wdrożenia tej części Wykazu. Widoczna w SIN punktacja jest odzwierciedleniem punktacji w PBN (wymuszają to procedury przesyłu danych o publikacjach), zatem punkty za konferencje widoczne w SIN będą mogły zostać zmienione, dopiero gdy zostaną zaktualizowane w PBN.

This website uses cookies to remember the authenticated session of the user. For more information, read about Cookies and Privacy Policy.