Depending on the amount of data to process, file generation may take longer.

If it takes too long to generate, you can limit the data by, for example, reducing the range of years.

Menu

PL EN
PL EN
Main page / Journals / IEEE Design and Test of Computers

Journal
Title

IEEE Design and Test of Computers

Journal unique ID

1000200

Publisher name

IEEE

ISSN

0740-7475

Comments

IEEE Design & Test of Computers

Current scoring

5

Journal years

  • Journal year Ministry points Impact Factor
  • 2003 --- ---
  • 2013 30 ---
System created by Poznań University of Technology and Poznan Supercomputing and Networking Center
Szanowni Państwo,

w SIN zaktualizowana została punktacja czasopism zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5. stycznia 2024 r.
Stało się to możliwe dopiero teraz, ponieważ, jak wcześniej Państwa informowaliśmy, SIN jest w tym zakresie zintegrowany z PBN (co wynika z procedur przesyłu danych o publikacjach) – a w PBN zmiany punktacji wdrożono dopiero 26.06.2024.

This website uses cookies to remember the authenticated session of the user. For more information, read about Cookies and Privacy Policy.