Depending on the amount of data to process, file generation may take longer.

If it takes too long to generate, you can limit the data by, for example, reducing the range of years.

Book

Download BibTeX

Title

Optymalizacja wrażliwości i uzysku produkcyjnego w scalonych układach CMOS o wielkiej skali integracji (VLSI)

Authors

[ 1 ] Instytut Sterowania i Inżynierii Systemów (ISt), Wydział Informatyki i Zarządzania, Politechnika Poznańska | [ P ] employee

Year of publication

2002

Book type

scientific monograph / Habilitation

Publication language

polish

Place

Poznań, Polska

Publisher name

Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej

Publisher name from the Ministry list

Politechnika Poznańska

Date of publication

2002

Number of pages

142

ISBN

83-7143-483-9

ISSN

0551-6528

Catalog

zz2002982651

Keywords
PL
  • układy analogowe
  • optymalizacja matematyczna
  • optymalizacja - stosowanie - technika
  • układy elektroniczne - teoria
  • układy scalone - projektowanie
  • VLSI - układ scalony o wielkiej skali integracji
  • optymalizacja uzysku
  • MOS tranzystory komplementarne - projektowanie i konstrukcja
  • układy VLSI - projektowanie i konstrukcja
  • tranzystory - stosowanie
Published in

Book series: Rozprawy / Politechnika Poznańska

Number in series

nr 371

This website uses cookies to remember the authenticated session of the user. For more information, read about Cookies and Privacy Policy.