Title
Optymalizacja wrażliwości i uzysku produkcyjnego w scalonych układach CMOS o wielkiej skali integracji (VLSI)
Authors
[ 1 ] Instytut Sterowania i Inżynierii Systemów (ISt), Wydział Informatyki i Zarządzania, Politechnika Poznańska | [ P ] employee
Year of publication
2002
Book type
scientific monograph / Habilitation
Publication language
polish
Place
Poznań, Polska
Publisher name
Publisher name from the Ministry list
Politechnika Poznańska
Date of publication
2002
Number of pages
142
ISBN
83-7143-483-9
ISSN
0551-6528
Catalog
Keywords
PL
- układy analogowe
- optymalizacja matematyczna
- optymalizacja - stosowanie - technika
- układy elektroniczne - teoria
- układy scalone - projektowanie
- VLSI - układ scalony o wielkiej skali integracji
- optymalizacja uzysku
- MOS tranzystory komplementarne - projektowanie i konstrukcja
- układy VLSI - projektowanie i konstrukcja
- tranzystory - stosowanie
Published in
Book series: Rozprawy / Politechnika Poznańska
Number in series
nr 371
System created by Poznań University of Technology
and Poznan Supercomputing and Networking Center
Log in through eKonto to add to SIS