Depending on the amount of data to process, file generation may take longer.

If it takes too long to generate, you can limit the data by, for example, reducing the range of years.

Menu

PL EN
PL EN
Main page / Publications / 2nd International Conference on Surface Metrology, Worcester, USA, October 25-27, 2010
Submit a comment

Book

Download BibTeX

Title

2nd International Conference on Surface Metrology, Worcester, USA, October 25-27, 2010

Year of publication

2010

Book type

conference proceedings

Publication language

english

Date of publication

2010

Chapters
Surface morphology in counterfeiting (p. 166-168)
Prediction of cylinder liner surface topography during plateau honing process
Some aspects of hardened steel HSM : process dynamics and modelling in relarion fo surface roughness (p. 102-112)
Conception of surfaces topography measurement application for morphometric analysis of actinopterygian
Conference

2nd International Conference on Surface Metrology, 25-27.10.2010, Worcester, USA

System created by Poznań University of Technology and Poznan Supercomputing and Networking Center
Szanowni Państwo,

w PBN 26.06.24 zaktualizowana została punktacja czasopism (zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5.01.24).
Nadal jednak nie zaktualizowano punktacji konferencji – co więcej, nie jest znany nawet przybliżony termin wdrożenia tej części Wykazu. Widoczna w SIN punktacja jest odzwierciedleniem punktacji w PBN (wymuszają to procedury przesyłu danych o publikacjach), zatem punkty za konferencje widoczne w SIN będą mogły zostać zmienione, dopiero gdy zostaną zaktualizowane w PBN.

This website uses cookies to remember the authenticated session of the user. For more information, read about Cookies and Privacy Policy.