Title
Pomiary charakterystyki prądowo-napięciowej nanostruktur: błąd systematyczny spowodowany pojemnościami sond
Authors
[ 1 ] Katedra Systemów Telekomunikacyjnych i Optoelektroniki, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] employee
Year of publication
2008
Published in
Article type
scientific article
Publication language
polish
Pages (from - to)
37 - 41
System created by Poznań University of Technology
and Poznan Supercomputing and Networking Center
Log in through eKonto to add to SIS