Title
Zastosowanie koncepcji ważonego wykresu Ishikawy do analizy wad odlewów
Authors
[ 1 ] Instytut Technologii Materiałów, Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania, Politechnika Poznańska | [ P ] employee
Year of publication
2009
Published in
Article type
scientific article
Publication language
polish
Pages (from - to)
430 - 433
System created by Poznań University of Technology
and Poznan Supercomputing and Networking Center
Log in through eKonto to add to SIS