Depending on the amount of data to process, file generation may take longer.

If it takes too long to generate, you can limit the data by, for example, reducing the range of years.

Menu

PL EN
PL EN
Main page / Reports / VLSI Testing – Built-in Self-Test Part 2
Submit a comment

Report

Works title

VLSI Testing – Built-in Self-Test Part 2

Authors

[ 1 ] Wydział Informatyki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska

Work ID

r1770_2021

Date

08.03.2021

Language

english

Number of pages or volume of work

40

Type of work

educational materials

System created by Poznań University of Technology and Poznan Supercomputing and Networking Center
Szanowni Państwo,

w SIN zaktualizowana została punktacja czasopism zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5. stycznia 2024 r.
Stało się to możliwe dopiero teraz, ponieważ, jak wcześniej Państwa informowaliśmy, SIN jest w tym zakresie zintegrowany z PBN (co wynika z procedur przesyłu danych o publikacjach) – a w PBN zmiany punktacji wdrożono dopiero 26.06.2024.

This website uses cookies to remember the authenticated session of the user. For more information, read about Cookies and Privacy Policy.