Thesis
Title
Metrologiczna analiza możliwości zastosowania współrzędnościowego skanera optycznego w kontroli jakości
Department
Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania, Politechnika Poznańska
Promoters
Reviewers
Title variant
EN Metrological analysis of the coordinate optical scanner application in quality control
Language
polish
Type
master thesis
Date of defense
30.10.2009
System created by Poznań University of Technology
and Poznan Supercomputing and Networking Center
Log in through eKonto to add to SIS