Tytuł
2014 IEEE International Test Conference (ITC), Seattle, WA, 20-23 Oct. 2014
Rok publikacji
2014
Typ książki
książka pod redakcją
Język publikacji
angielski
Wydawca
Wydawca z listy Ministerstwa
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Data opublikowania
2014
ISBN
978-1-4799-4722-5
Ten serwis działa dzięki oprogramowaniu SINUS
opracowanemu przez Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN