Tytuł
Druga Konferencja Metrologia Kwantowa 2008
Autorzy
[ 1 ] Instytut Elektrotechniki Przemysłowej (IEp), Wydział Elektryczny, Politechnika Poznańska | [ E ] pracownik emerytowany
Rok publikacji
2008
Opublikowano w
Typ artykułu
komunikat
Język publikacji
polski
Strony (od-do)
35 - 35
Zaprezentowany na
Druga Konferencja Metrologia Kwantowa 2008, 5-7.05.2008, Poznań, Polska
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN