W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

PL EN
PL EN
Strona główna / Publikacje / Metrologia w technikach wytwarzania: XI Krajowa, II Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna, 15-17 września 2005
Zgłoś uwagę

Książka

Pobierz BibTeX

Tytuł

Metrologia w technikach wytwarzania: XI Krajowa, II Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna, 15-17 września 2005

Redaktorzy

Rok publikacji

2005

Typ książki

materiały konferencyjne

Język publikacji

polski

Miejsce

Lublin, Polska

Wydawca

Politechnika Lubelska

Wydawca z listy Ministerstwa

Politechnika Lubelska

Data opublikowania

2005

Rozdziały
Zastosowanie filtrów odpornych w pomiarach chropowatości powierzchni (s. 61-62)
Pomiar chropowatości zmarszczki na skórze twarzy (s. 88-89)
Sterowanie przyrządami za pomocą pakietu MATLAB na przykładzie profilometru HOMMELWERKE T500 (s. 165-169)
Konferencja

XI Krajowa i II Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna Metrologia w technikach wytwarzania, 15-17.09.2005, Lublin, Polska

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Szanowni Państwo,

w PBN 26.06.24 zaktualizowana została punktacja czasopism (zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5.01.24).
Nadal jednak nie zaktualizowano punktacji konferencji – co więcej, nie jest znany nawet przybliżony termin wdrożenia tej części Wykazu. Widoczna w SIN punktacja jest odzwierciedleniem punktacji w PBN (wymuszają to procedury przesyłu danych o publikacjach), zatem punkty za konferencje widoczne w SIN będą mogły zostać zmienione, dopiero gdy zostaną zaktualizowane w PBN.

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.