Tytuł
Data Structure in Behavioral Testing of Logical Circuits
Autorzy
[ 1 ] Instytut Automatyki i Inżynierii Informatycznej, Wydział Elektryczny, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik
Rok publikacji
2002
Typ rozdziału
referat
Język publikacji
angielski
Strony (od-do)
269 - 272
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN