W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

PL EN
PL EN
Strona główna / Publikacje / Proceedings of the 10th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces : July 4-7, 2005, Saint-Étienne, France
Zgłoś uwagę

Książka

Pobierz BibTeX

Tytuł

Proceedings of the 10th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces : July 4-7, 2005, Saint-Étienne, France

Redaktorzy

Rok publikacji

2005

Typ książki

materiały konferencyjne

Język publikacji

angielski

Wydawca

Université de Saint-Etienne

Data opublikowania

2005

Liczba stron

492

ISBN

9782862723891

Rozdziały
The Influence of Surface Topography on Emissive Properties (s. 471-478)
Konferencja

10th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces, 4-7.07.2005, Saint-Étienne, France

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Szanowni Państwo,

w PBN 26.06.24 zaktualizowana została punktacja czasopism (zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5.01.24).
Nadal jednak nie zaktualizowano punktacji konferencji – co więcej, nie jest znany nawet przybliżony termin wdrożenia tej części Wykazu. Widoczna w SIN punktacja jest odzwierciedleniem punktacji w PBN (wymuszają to procedury przesyłu danych o publikacjach), zatem punkty za konferencje widoczne w SIN będą mogły zostać zmienione, dopiero gdy zostaną zaktualizowane w PBN.

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.