Tytuł
Kształcenie w zakresie metrologii w obliczu wyzwań nowych technologii : Joint IMEKO TC-1 & XXXIV MKM Conference 2002, Politechnika Wrocławska, Wrocław, 8-12 września 2002. Vol. 2, Materiały XXXIV MKM
Redaktorzy
Rok publikacji
2002
Typ książki
materiały konferencyjne
Język publikacji
polski
Miejsce
Wrocław, Polska
Wydawca z listy Ministerstwa
Politechnika Wrocławska
Data opublikowania
2002
Liczba stron
428
ISBN
83-7085-648-9
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN