W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

PL EN
PL EN
Strona główna / Prace dyplomowe / Ocena dokładności, powtarzalności i stabilności pomiarów topografii powierzchni mikroskopem interferencyjnym Veeco NT1100

Praca dyplomowa

Pobierz BibTeX

Tytuł

Ocena dokładności, powtarzalności i stabilności pomiarów topografii powierzchni mikroskopem interferencyjnym Veeco NT1100

Wydział

Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania, Politechnika Poznańska

Promotorzy

Recenzenci

Wariant tytułu

EN Evaluation of accuracy, repeatability and the stability of the topography measurements with interference microscope Veeco NT1100

Język

polski

Typ

praca magisterska

Data obrony

22.07.2013

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Szanowni Państwo,

w PBN 26.06.24 zaktualizowana została punktacja czasopism (zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5.01.24).
Nadal jednak nie zaktualizowano punktacji konferencji – co więcej, nie jest znany nawet przybliżony termin wdrożenia tej części Wykazu. Widoczna w SIN punktacja jest odzwierciedleniem punktacji w PBN (wymuszają to procedury przesyłu danych o publikacjach), zatem punkty za konferencje widoczne w SIN będą mogły zostać zmienione, dopiero gdy zostaną zaktualizowane w PBN.

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.