W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

PL EN
PL EN
Strona główna / Prawa własności intelektualnej / SCAN-BASED TEST ARCHITECTURE FOR INTERCONNECTS IN STACKED DESIGNS
Zgłoś uwagę

Wynik

Tytuł

SCAN-BASED TEST ARCHITECTURE FOR INTERCONNECTS IN STACKED DESIGNS

Twórcy

[ 1 ] Instytut Radiokomunikacji, Wydział Informatyki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Dyscyplina naukowa (Ustawa 2.0)

[2.3] Informatyka techniczna i telekomunikacja

Numer PAT

0056

Rodzaj prawa ochronnego

wynalazek

Zgłoszenie, przyznanie i utrzymanie ochrony

Ochrona wyniku

Stany Zjednoczone

Zgłoszenie do Urzędu Patentowego

Numer zgłoszenia do Urzędu Patentowego

14170804

Data zgłoszenia do Urzędu Patentowego

03.02.2014

Kraj / region

Stany Zjednoczone

Przyznanie i utrzymanie ochrony

Numer prawa ochronnego

9720041

Data otrzymania prawa

01.08.2017

Kraj / region

Stany Zjednoczone

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Szanowni Państwo,

w PBN 26.06.24 zaktualizowana została punktacja czasopism (zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5.01.24).
Nadal jednak nie zaktualizowano punktacji konferencji – co więcej, nie jest znany nawet przybliżony termin wdrożenia tej części Wykazu. Widoczna w SIN punktacja jest odzwierciedleniem punktacji w PBN (wymuszają to procedury przesyłu danych o publikacjach), zatem punkty za konferencje widoczne w SIN będą mogły zostać zmienione, dopiero gdy zostaną zaktualizowane w PBN.

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.