SIS PUT | prof. dr hab. inż. Jerzy Tyszer

1.

Autonomous Scan Patterns for Laser Voltage Imaging / Jerzy Tyszer (WIiT), Wu-Tung Cheng, Sylwester Milewski (WIiT), Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Maciej Trawka // IEEE Transactions on Emerging Topics in Computing - 2021, vol. 9, no. 2, p. 680-691

Scientific article 140.0 7.691
2.

Time and Area Optimized Testing of Automotive ICs / Nilanjan Mukherjee, Daniel Tille, Mahendar Sapati, Yingdi Liu, Jeffrey Mayer, Sylwester Milewski (WIiT), Elham Moghaddam, Janusz Rajski, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WIiT) // IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems - 2021, vol. 29, no. 1, p. 76-88

Scientific article 100.0 2.312
3.

X-Tolerant Compactor maXpress for In-System Test Applications with Observation Scan / Yingdi Liu, Sylwester Milewski (WIiT), Grzegorz Mrugalski, Nilanjan Mukherje, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems - 2021, vol. 29, no. 8, p. 1553-1566

Scientific article 100.0 2.312
4.

Deterministic Stellar BIST for Automotive ICs / Yingdi Liu, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Sudhakar M. Reddy, Jerzy Tyszer (WIiT) // IEEE Transactions on Computer Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2020, vol. 39, no. 8, p. 1699-1710

Scientific article 100.0 2.807
5.

Low Cost Hypercompression of Test Data / Yu Huang, Sylwester Milewski (WIiT), Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT), Chen Wang // IEEE Transactions on Computer Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2020, vol. 39, no. 10, p. 2964-2975

Scientific article 100.0 2.807

All articles

1.

Convolutional Compaction-Based MRAM Fault Diagnosis / Bartosz Grzelak (WIiT), Martin Keim, Artur Pogiel, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT) // W: IEEE European Test Symposium (ETS) 2021: IEEE, 2021

Chapter in monograph / paper 20.0
2.

Test Sequence-Optimized BIST for Automotive Applications / Bartosz Kaczmarek, Grzegorz Mrugalski, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Łukasz Rybak, Jerzy Tyszer (WIiT) // W: IEEE European Test Symposium (ETS) 2020: IEEE, 2020

Chapter in monograph / paper 20.0
3.

X-Tolerant Tunable Compactor for In-System Test / Yingdi Liu, Sylwester Milewski, Grzegorz Mrugalski, Nilanjan Mukherje, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // W: IEEE International Test Conference (ITC) 2020: IEEE, 2020

Chapter in monograph / paper 20.0 70.0
4.

On cyclic scan integrity tests for EDT-based compression / Wu-Tung Cheng, Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Maciej Trawka, Jerzy Tyszer (WEiT) // W: IEEE 37th VLSI Test Symposium (VTS 2019): IEEE, 2019

Chapter in monograph / paper 20.0
5.

Test Time and Area Optimized BrST Scheme for Automotive ICs / Nilanjan Mukherjee, Daniel Tille, Mahendar Sapati, Yingdi Liu, Jeffrey Mayer, Sylwester Milewski, Elham Moghaddam, Janusz Rajski, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WEiT) // W: IEEE International Test Conference (ITC 2019): IEEE, 2019

Chapter in monograph / paper 20.0 70.0

All chapters

1.

VLSI testing - memory test / Jerzy Tyszer (WIiT) // r1869_2021

Educational materials
2.

VLSI testing - test data compression / Jerzy Tyszer (WIiT) // r1868_2021

Educational materials
3.

VLSI Testing – Built-in Self-Test / Jerzy Tyszer (WIiT) // r1211_2020

Educational materials
4.

VLSI Testing – Design for test part 2 / Jerzy Tyszer (WIiT) // r916_2020

Educational materials
5.

VLSI Testing – Design for test / Jerzy Tyszer (WEiT) // r477_2019

Educational materials

All reports

1.

Detekcja i lokalizacja uszkodzeń w przestrzenno-czasowych polach komutacyjnych / Jerzy Tyszer (WE) / prom. Andrzej Jajszczyk (WE), rev. Wojciech Cellary (WE), Zdzisław Kachlicki (WE), Jan Zabrodzki - Poznań, Polska, 1987 - 95 s.

Dissertation

1.

On new class of test points and their applications / Justyna Zawada (WEiT) / prom. Jerzy Tyszer (WEiT), rev. Sybille Hellebrand, Adit D. Singh - Poznań, Polska, 2017 - 130 s.

Dissertation
2.

Testing digital integrated circuits with novel low power high fault coverage techniques and a new scan architecture / Jędrzej Solecki (WEiT) / prom. Jerzy Tyszer (WEiT), rev. Sybille Hellebrand, Andrzej Kraśniewski - Poznań, Polska, 2015 - 104 s.

Dissertation
3.

Test compression bandwidth management in system-on-a-chip designs / Jakub Remigiusz Janicki (WEiT) / prom. Jerzy Tyszer (WEiT), Janusz Rajski, rev. Krishnendu Chakrabarty, Andrzej Kraśniewski - Poznań, Polska, 2014 - 116 s.

Dissertation
4.

Low Power Test Application with Selective Compaction in VLSI Designs / Dariusz Czysz (WEiT) / prom. Jerzy Tyszer (WEiT), Janusz Rajski, rev. Marek Domański (WEiT), Hans-Joachim Wunderlich, Andrzej Kraśniewski - Poznań, Polska, 2010 - 133 s.

Dissertation
5.

Fault Diagnosis in Design with Convolutional Compactors / Artur Pogiel / prom. Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WEiT), rev. Sybille Hellebrand, Andrzej Kraśniewski, Krzysztof Wesołowski (WEiT) - Poznań, Polska, 2008 - 101 s.

Dissertation

All dissertations

1.

Nieliniowe funkcje sprzężeń zwrotnych rejestrów maksymalnych i ich zastosowanie w projektowaniu kryptograficznej funkcji skrótu / Izabela Janicka-Lipska / prom. Janusz Stokłosa, rev. Eugeniusz Kuriata, Jerzy Tyszer (WE) - Poznań, Polska, 2002 - 96 s.

Dissertation

All dissertations

1.

Kompaktor odpowiedzi testowych tolerujący stany nieznane w układach cyfrowych wielkiej skali integracji / Bartosz Włodarczak (WIiT) / prom. Jerzy Tyszer, rev. Piotr Remlein, 2020

Master thesis
2.

Low power test data compression in VLSI digital circuits / Sylwester Milewski (WEiT) / prom. Jerzy Tyszer, rev. Piotr Remlein, 2015

Master thesis
3.

Improving performance of isometric test compression / Oleksii Fedorenko (WEiT) / prom. Jerzy Tyszer, rev. Piotr Remlein, 2014

Master thesis
4.

Identification of compatible faults in automatic test pattern generation for VLSI digital circuits / Justyna Zawada (WEiT) / prom. Jerzy Tyszer, rev. Piotr Remlein, 2014

Master thesis
5.

Low power compression with test data broadcasting in VLSI circuits / Sylwester Milewski (WEiT) / prom. Jerzy Tyszer, rev. Piotr Remlein, 2014

Engineering thesis

All theses

1.

Analiza i optymalizacja komercyjnego programu do autotestowania pamięci wbudowanych / Bartosz Grzelak (WIiT) / prom. Artur Pogiel, rev. Jerzy Tyszer, 2020

Engineering thesis
2.

Optimizing test patterns for VLSI digital circuits / Jakub Sienkiewicz (WI) / prom. Grzegorz Mrugalski, rev. Jerzy Tyszer, 2018

Master thesis
3.

Walidacja układów programowalnego skramblowania w autotestowaniu pamięci półprzeownidkowych. / Tomasz Łukowiak (WEiT) / prom. Artur Pogiel, rev. Jerzy Tyszer, 2014

Master thesis
4.

Testowanie systemów jednoukładowych przy wykorzystaniu szeregowej transmisji danych / Maciej Trawka (WEiT) / prom. Artur Pogiel, rev. Jerzy Tyszer, 2013

Master thesis
5.

Prezentacja algorytmów wyznaczających przybliżone wartości pierwiatków funkcji / Katarzyna Andrzejewska (WEiT) / prom. Zbigniew Długaszewski, rev. Jerzy Tyszer, 2012

Engineering thesis

All theses

1.

Test Application Time Reduction Using Capture-Per-Cycle Test Points / Janusz Rajski, Sylwester Milewski, Nilanjan Mukherje, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WIiT), Justyna Zawada // 0100

Invention
2.

MULTI-STAGE TEST RESPONSE COMPACTORS / Jerzy Tyszer (WIiT), Janusz Rajski, Grzegorz Mrugalski, Mark Kassab, Wu-Tung Cheng // 0057

Invention
3.

Continuous application and decompression of test patterns and selective compaction of test responses / Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT), Mark Kassab, Nilanjan Mukherje // 0104

Invention
4.

Test Point-Enhanced Hardware Security / Janusz Rajski, Nilanjan Mukherjee, Elham Moghaddam, Jerzy Tyszer (WIiT), Justyna Zawada // 010

Invention
5.

TEST-PER-CLOCK BASED ON DYNAMICALLY-PARTITIONED RECONFIGURABLE SCAN CHAINS / Jerzy Tyszer (WIiT) // 0055

Invention

All outcomes

System created by Poznań University of Technology and Poznan Supercomputing and Networking Center

Scientific Information System of the Poznań University of Technology

Employee

prof. dr hab. inż. Jerzy Tyszer

Articles (19)

Chapters (26)

Reports (6)

Dissertation

Doctoral supervisor of doctoral dissertations (6)

Reviews of doctoral dissertations (1)

Supervisor of theses (12)

Reviews of theses (7)

IP outcomes (13)