SIN PP | prof. dr hab. inż. Jerzy Tyszer

Trwa generowanie pliku...

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

Wyniki prac naukowych
Publikacje od 2013
Publikacje do 2012
Rozprawy
Raporty
Czasopisma PP
Czasopisma

Wydarzenia
Konferencje

Zaloguj

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać publikacje

Strona główna / Ludzie / prof. dr hab. inż. Jerzy Tyszer

Pracownik

prof. dr hab. inż. Jerzy Tyszer Wszystkie publikacje

Wydział Elektroniki i Telekomunikacji

Katedra Radiokomunikacji

E-mail: jerzy.tyszer(at)put.poznan.pl

Tel. 61 665 38 14

PBN ID	1491361
ResearcherID	N-1704-2014

Artykuły (12)

Legenda: Punktacja MNiSW Punktacja IF Indeksowane w WoS

Trimodal scan-based test paradigm / Jerzy Tyszer (WEiT), Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Jędrzej Solecki, Chen Wang // IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems - 2017, vol. 25, no. 3, s. 1112-1125

30 1,744

Star-EDT: Deterministic on-chip scheme using compressed test patterns / Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Łukasz Rybak, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WEiT) // IEEE Transactions on Computer Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2017, vol. 36, no. 4, s. 683-693

25 2,089

Hardware Protection via Logic Locking Test Points / Michael Chen, Elham Moghaddam, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WEiT), Justyna Zawada (WEiT) // IEEE Transactions on Computer Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2018, vol. 37, no. 12, s. 3020-3030

25 2,089

Embedded Deterministic Test Points / Cesar Acero, Derek Feltham, Yingdi Liu, Elham Moghaddam, Nilanjan Mukherjee, Marek Patyra, Janusz Rajski, Sudhakar M. Reddy, Jerzy Tyszer (WEiT), Justyna Zawada (WEiT) // IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems - 2017, vol. 25, no. 10, s. 2949-2961

30 1,744

On New Test Points for Compact Cell-Aware Tests / Cesar Acero, Derek Feltham, Marek Patyra, Friedrich Hapke, Elham Moghaddam, Nilanjan Mukherjee, Vidya Neerkundar, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WEiT), Justyna Zawada (WEiT) // IEEE Design & Test - 2016, vol. 33, iss. 6, s. 7-14

25 1,366

Pokaż wszystkie artykuły

Rozdziały (21)

Legenda: Indeksowane w WoS

On new class of test points and their applications / Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WEiT), Justyna Zawada (WEiT) // W: 2018 IEEE International Test Conference (ITC) - New York, USA : IEEE, 2018

Deterministic Stellar BIST for in-system automotive test / Yingdi Liu, Nilanjan Mukherje, Janusz Rajski, Sudhakar M. Reddy, Jerzy Tyszer (WEiT) // W: 2018 IEEE International Test Conference (ITC) - New York, USA : IEEE, 2018

Hypercompression of test patterns / Yu Huang, Sylwester Milewski (WEiT), Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WEiT), Chen Wang // W: 2018 IEEE International Test Conference (ITC) - New York, USA : IEEE, 2018

Staggered ATPG with capture-per-cycle observation test points / Yingdi Liu, Janusz Rajski, Sudhakar M. Reddy, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WEiT) // W: IEEE 36th VLSI Test Symposium (VTS 2018): IEEE, 2018

Full-Scan LBIST with Capture-per-Cycle Hybrid Test Points / Sylwester Milewski, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WEiT), Justyna Zawada (WEiT) // W: 2017 IEEE INTERNATIONAL TEST CONFERENCE (ITC) - New York, NY, USA : IEEE, 2017

WoS

Pokaż wszystkie rozdziały

System tworzony przez Politechnikę Poznańską i
Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe

Wróć do góry

W przypadku artykułów z lat 2017 i 2018 stosujemy - zgodnie z zapisem w dokumencie Ustawa z dnia 3 lipca 2018 r. - Przepisy wprowadzające ustawę - Prawo o szkolnictwie wyższym i nauce - punktację z Ujednoliconego wykazu czasopism naukowych 2013-2016 (wykaz czasopism naukowych ogłoszony komunikatem Ministra Nauki i Szkolnictwa Wyższego z dnia 25.01.2017).

W Przepisach nie sformułowano żadnych zaleceń dotyczących publikacji z 2019 roku. Należy zatem poczekać na ogłoszenie nowego wykazu (Rozporządzenie Ministra Nauki i Szkolnictwa Wyższego z dnia 7 listopada 2018 r. w sprawie sporządzania wykazów wydawnictw monografii naukowych oraz czasopism naukowych i recenzowanych materiałów z konferencji międzynarodowych).