SIN PP | prof. dr hab. inż. Jerzy Tyszer

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

Strona główna / Ludzie / prof. dr hab. inż. Jerzy Tyszer

Pracownik

Wszystkie raporty Wszystkie publikacje

prof. dr hab. inż. Jerzy Tyszer

Wydział Elektroniki i Telekomunikacji

Katedra Radiokomunikacji

E-mail: jerzy.tyszer(at)put.poznan.pl

Tel. 61 665 38 14

PBN ID

1491361

ResearcherID

N-1704-2014

ORCID

0000-0001-9722-2344

Dyscyplina naukowa (Ustawa 2.0)

2.3 Informatyka techniczna i telekomunikacja: 100%

On new class of test points and their applications / Justyna Zawada / prom. Jerzy Tyszer (WEiT), rec. Sybille Hellebrand, Adit D. Singh - Poznań, Polska, 2017 - 130 s.

Testing digital integrated circuits with novel low power high fault coverage techniques and a new scan architecture / Jędrzej Solecki / prom. Jerzy Tyszer (WEiT), rec. Sybille Hellebrand, Andrzej Kraśniewski - Poznań, Polska, 2015 - 104 s.

Test compression bandwidth management in system-on-a-chip designs / Jakub Remigiusz Janicki / prom. Jerzy Tyszer (WEiT), Janusz Rajski, rec. Krishnendu Chakrabarty, Andrzej Kraśniewski - Poznań, Polska, 2014 - 116 s.

Logic BIST with capture-per-clock hybrid test points / Elham Moghaddam, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WEiT), Justyna Zawada // IEEE Transactions on Computer Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2019, vol. 38, no. 6, s. 1028-1041

100 2,402

Hardware Protection via Logic Locking Test Points / Michael Chen, Elham Moghaddam, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WEiT), Justyna Zawada (WEiT) // IEEE Transactions on Computer Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2018, vol. 37, no. 12, s. 3020-3030

25 2,402

Embedded Deterministic Test Points / Cesar Acero, Derek Feltham, Yingdi Liu, Elham Moghaddam, Nilanjan Mukherjee, Marek Patyra, Janusz Rajski, Sudhakar M. Reddy, Jerzy Tyszer (WEiT), Justyna Zawada (WEiT) // IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems - 2017, vol. 25, no. 10, s. 2949-2961

30 1,744

Star-EDT: Deterministic on-chip scheme using compressed test patterns / Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Łukasz Rybak, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WEiT) // IEEE Transactions on Computer Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2017, vol. 36, no. 4, s. 683-693

25 2,089

Trimodal scan-based test paradigm / Jerzy Tyszer (WEiT), Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Jędrzej Solecki, Chen Wang // IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems - 2017, vol. 25, no. 3, s. 1112-1125

30 1,744

Wszystkie artykuły

Deterministic Stellar BIST for in-system automotive test / Yingdi Liu, Nilanjan Mukherje, Janusz Rajski, Sudhakar M. Reddy, Jerzy Tyszer (WEiT) // W: 2018 IEEE International Test Conference (ITC) - New York, USA : IEEE, 2018

20 70

Hypercompression of test patterns / Yu Huang, Sylwester Milewski (WEiT), Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WEiT), Chen Wang // W: 2018 IEEE International Test Conference (ITC) - New York, USA : IEEE, 2018

20 70

On new class of test points and their applications / Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WEiT), Justyna Zawada (WEiT) // W: 2018 IEEE International Test Conference (ITC) - New York, USA : IEEE, 2018

20 70 15

Staggered ATPG with capture-per-cycle observation test points / Yingdi Liu, Janusz Rajski, Sudhakar M. Reddy, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WEiT) // W: IEEE 36th VLSI Test Symposium (VTS 2018): IEEE, 2018

20 15

Full-Scan LBIST with Capture-per-Cycle Hybrid Test Points / Sylwester Milewski, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WEiT), Justyna Zawada (WEiT) // W: 2017 IEEE INTERNATIONAL TEST CONFERENCE (ITC) - New York, NY, USA : IEEE, 2017

20 70 15

Wszystkie rozdziały

VLSI Testing – Design for test / Jerzy Tyszer (WEiT) // r477_2019

Wszystkie raporty

System tworzony przez Politechnikę Poznańską i
Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe

Wróć do góry

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

Pracownik

prof. dr hab. inż. Jerzy Tyszer

Promotorstwo rozpraw doktorskich

Artykuły (13)

Rozdziały (21)

Raporty (1)