prof. dr hab. inż. Jerzy Tyszer
Dyscyplina naukowa (Ustawa 2.0)
Pracownik
Promotorstwo rozpraw doktorskich
-
1.On new class of test points and their applications
-
2.Testing digital integrated circuits with novel low power high fault coverage techniques and a new scan architecture
-
3.Test compression bandwidth management in system-on-a-chip designs
-
4.Low power test application with selective compaction in VLSI designs
Artykuły (13)
Legenda:
Punktacja MNiSW
CORE
Impact Factor
Indeksowane w WoS
-
1.Logic BIST with capture-per-clock hybrid test points
100 2,402 -
2.Hardware Protection via Logic Locking Test Points
25 2,402 -
3.Embedded Deterministic Test Points
30 1,744 -
4.Star-EDT: Deterministic on-chip scheme using compressed test patterns
25 2,089 -
5.Trimodal scan-based test paradigm
30 1,744
Rozdziały (21)
Legenda:
Punktacja MNiSW
CORE
Indeksowane w WoS
-
1.Deterministic Stellar BIST for in-system automotive test
20 70 -
2.Hypercompression of test patterns
20 70 -
3.On new class of test points and their applications
20 70 15 -
4.Staggered ATPG with capture-per-cycle observation test points
20 15 -
5.Full-Scan LBIST with Capture-per-Cycle Hybrid Test Points
20 70 15
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
i Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Wróć do góry
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN