SIN PP | prof. dr hab. inż. Jerzy Tyszer

1.

H₂B: Crypto hash functions based on hybrid ring generators / Janusz Rajski, Maciej Trawka, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2024, vol. 43, iss. 2, s. 442-455

Artykuł naukowy 100 2,9
2.

A Lightweight True Random Number Generator for Root of Trust Applications / Janusz Rajski, Maciej Trawka, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2023, vol. 42, iss. 9, s. 2815-2825

Artykuł naukowy 100 2,9
3.

A new static compaction of deterministic test sets / Stephan Eggersglüß, Sylwester Milewski, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT) // IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems - 2023, vol. 31, iss. 4, s. 411-420

Artykuł naukowy 100 2,8
4.

X-masking for Deterministic In-System Tests / Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2023, vol. 42, iss. 11, s. 4260-4269

Artykuł naukowy 100 2,9
5.

LBIST for Automotive ICs with Enhanced Test Generation / Bartosz Kaczmarek, Grzegorz Mrugalski, Nilanjan Mukherjee, Artur Pogiel, Janusz Rajski, Łukasz Rybak, Jerzy Tyszer (WIiT) // IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2022, vol. 41, no. 7, s. 2290-2300

Artykuł naukowy 100 2,9

Wszystkie ARTYKUŁY

1.

Hybrid Ring Generators for In-System Test Applications / Janusz Rajski, Maciej Trawka, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // W: 2023 IEEE European Test Symposium (ETS). Proceedings: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2023 - s. 1-6

Rozdział w monografii naukowej / referat 20
2.

DIST: Deterministic In-System Test with X-masking / Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // W: 2022 IEEE International Test Conference. ITC 2022. Proceedings: Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc, 2022 - s. 20-27

Rozdział w monografii naukowej / referat 20 70
3.

Hardware Root of Trust for SSN-based DFT Ecosystems / Janusz Rajski, Maciej Trawka, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // W: 2022 IEEE International Test Conference. ITC 2022. Proceedings: Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc, 2022 - s. 450-454

Rozdział w monografii naukowej / referat 20 70
4.

X-Masking for In-System Deterministic Test / Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // W: Proceedings of the IEEE European Test Symposium 2022: IEEE, 2022 - s. [1]-[6]

Rozdział w monografii naukowej / referat 20
5.

Convolutional Compaction-Based MRAM Fault Diagnosis / Bartosz Grzelak (WIiT), Martin Keim, Artur Pogiel, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT) // W: IEEE European Test Symposium (ETS) 2021: IEEE, 2021

Rozdział w monografii naukowej / referat 20

Wszystkie ROZDZIAŁY

1.

Układy cyfrowe : zbiór zadań z rozwiązaniami / Jerzy Tyszer (WE), Grzegorz Mrugalski (WE) / Poznań, Polska : Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, 2004 - 266 s.

Podręcznik akademicki / skrypt
2.

Układy cyfrowe : zbiór zadań z rozwiązaniami / Jerzy Tyszer (WE), Grzegorz Mrugalski (WE) / Poznań, Polska : Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, 2002 - 266 s.

Podręcznik akademicki / skrypt

Wszystkie KSIĄŻKI

1.

VLSI testing - memory test / Jerzy Tyszer (WIiT) // r1869_2021

Materiały dydaktyczne
2.

VLSI testing - test data compression / Jerzy Tyszer (WIiT) // r1868_2021

Materiały dydaktyczne
3.

VLSI Testing – Built-in Self-Test / Jerzy Tyszer (WIiT) // r1211_2020

Materiały dydaktyczne
4.

VLSI Testing – Design for test part 2 / Jerzy Tyszer (WIiT) // r916_2020

Materiały dydaktyczne
5.

VLSI Testing – Design for test / Jerzy Tyszer (WEiT) // r477_2019

Materiały dydaktyczne

Wszystkie RAPORTY

1.

Detekcja i lokalizacja uszkodzeń w przestrzenno-czasowych polach komutacyjnych / Jerzy Tyszer (WE) / prom. Andrzej Jajszczyk (WE), rec. Wojciech Cellary (WE), Zdzisław Kachlicki (WE), Jan Zabrodzki - Poznań, Polska, 1987 - 95 s.

Rozprawa doktorska

1.

Hypercompression of test data / Sylwester Milewski (WIiT) / prom. Jerzy Tyszer (WIiT), rec. Matteo Sonza Reorda, Sybille Hellebrand - Poznań, Polska, 2022 - 89 s.

Rozprawa doktorska
2.

On new class of test points and their applications / Justyna Zawada (WEiT) / prom. Jerzy Tyszer (WEiT), rec. Sybille Hellebrand, Adit D. Singh - Poznań, Polska, 2017 - 130 s.

Rozprawa doktorska
3.

Testing digital integrated circuits with novel low power high fault coverage techniques and a new scan architecture / Jędrzej Solecki (WEiT) / prom. Jerzy Tyszer (WEiT), rec. Sybille Hellebrand, Andrzej Kraśniewski - Poznań, Polska, 2015 - 104 s.

Rozprawa doktorska
4.

Test compression bandwidth management in system-on-a-chip designs / Jakub Remigiusz Janicki (WEiT) / prom. Jerzy Tyszer (WEiT), Janusz Rajski, rec. Krishnendu Chakrabarty, Andrzej Kraśniewski - Poznań, Polska, 2014 - 116 s.

Rozprawa doktorska
5.

Low Power Test Application with Selective Compaction in VLSI Designs / Dariusz Czysz (WEiT) / prom. Jerzy Tyszer (WEiT), Janusz Rajski, rec. Marek Domański (WEiT), Hans-Joachim Wunderlich, Andrzej Kraśniewski - Poznań, Polska, 2010 - 133 s.

Rozprawa doktorska

Wszystkie ROZPRAWY DOKTORSKIE

1.

Nieliniowe funkcje sprzężeń zwrotnych rejestrów maksymalnych i ich zastosowanie w projektowaniu kryptograficznej funkcji skrótu / Izabela Janicka-Lipska / prom. Janusz Stokłosa, rec. Eugeniusz Kuriata, Jerzy Tyszer (WE) - Poznań, Polska, 2002 - 96 s.

Rozprawa doktorska

Wszystkie ROZPRAWY DOKTORSKIE

1.

Pattern relaxation-based test data compression / WIiT / prom. Jerzy Tyszer, rec. Filip Idzikowski, 2023

Praca magisterska
2.

Aplikacja hybrydowych wektorów testowych w układach cyfrowych wielkiej skali integracji / WIiT / prom. Jerzy Tyszer, rec. Filip Idzikowski, 2022

Praca magisterska
3.

Energooszczędna kompresja danych testowych w układach cyfrowych wielkiej skali integracji / WIiT / prom. Jerzy Tyszer, rec. Filip Idzikowski, 2022

Praca magisterska
4.

Szybkie generatory sekwencji losowych oparte o gęste generatory pierścieniowe / WIiT / prom. Jerzy Tyszer, rec. Maciej Krasicki, 2022

Praca inżynierska
5.

Kompaktor ułatwiający diagnostykę ścieżek testujących w układach cyfrowych wielkiej skali integracji / WIiT / prom. Jerzy Tyszer, rec. Piotr Remlein, 2021

Praca magisterska

Wszystkie PRACE DYPLOMOWE

1.

Analiza i optymalizacja komercyjnego programu do autotestowania pamięci wbudowanych / WIiT / prom. Artur Pogiel, rec. Jerzy Tyszer, 2020

Praca inżynierska
2.

Optimizing test patterns for VLSI digital circuits / WI / prom. Grzegorz Mrugalski, rec. Jerzy Tyszer, 2018

Praca magisterska
3.

Walidacja układów programowalnego skramblowania w autotestowaniu pamięci półprzeownidkowych. / WEiT / prom. Artur Pogiel, rec. Jerzy Tyszer, 2014

Praca magisterska
4.

Testowanie systemów jednoukładowych przy wykorzystaniu szeregowej transmisji danych / WEiT / prom. Artur Pogiel, rec. Jerzy Tyszer, 2013

Praca magisterska
5.

Prezentacja algorytmów wyznaczających przybliżone wartości pierwiatków funkcji / WEiT / prom. Zbigniew Długaszewski, rec. Jerzy Tyszer, 2012

Praca inżynierska

Wszystkie PRACE DYPLOMOWE

1.

Trajectory-Optimized Test Pattern Generation for Built-In Self-Test / Jerzy Tyszer (WIiT), Janusz Rajski, Grzegorz Mrugalski, Łukasz Rybak, Nilanjan Mukherjee // 3/Z/2023

Wynalazek
2.

Universal compactor architecture for testing circuits / Jerzy Tyszer (WIiT), Yingdi Liu, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Grzegorz Mrugalski, Bartosz Włodarczak (WIiT) // Z/11/2023

Wynalazek
3.

Deterministic Stellar built-in self test / Jerzy Tyszer (WIiT), Janusz Rajski, Yjingdi Liu, Nijanjan Mukherjee // 2/Z/2023

Wynalazek
4.

Flexible isometric decompressor architecture for test compression / Janusz Rajski, Yu Huang, Sylwester Milewski, Jerzy Tyszer (WIiT) // 0117

Wynalazek
5.

Test Application Time Reduction Using Capture-Per-Cycle Test Points / Janusz Rajski, Sylwester Milewski, Nilanjan Mukherje, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WIiT), Justyna Zawada // 0100

Wynalazek