SIS PUT | prof. dr hab. inż. Jerzy Tyszer

1.

H₂B: Crypto hash functions based on hybrid ring generators / Janusz Rajski, Maciej Trawka, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2024, vol. 43, iss. 2, p. 442-455

Scientific article 100 2,7
2.

The future of design for test and silicon lifecycle management / Janusz Rajski, Vivek Chickermane, Stephan Eggersglüß, Nilanjan Mukherjee, Jean-François Côté, Jerzy Tyszer (WIiT) // IEEE Design & Test - 2024, vol. 41, iss. 4, p. 35-49

Scientific article 70 1,9
3.

A Lightweight True Random Number Generator for Root of Trust Applications / Janusz Rajski, Maciej Trawka, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2023, vol. 42, iss. 9, p. 2815-2825

Scientific article 100 2,7
4.

A new static compaction of deterministic test sets / Stephan Eggersglüß, Sylwester Milewski, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT) // IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems - 2023, vol. 31, iss. 4, p. 411-420

Scientific article 100 2,8
5.

X-masking for Deterministic In-System Tests / Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2023, vol. 42, iss. 11, p. 4260-4269

Scientific article 100 2,7

All ARTICLES

1.

Hybrid Ring Generators for In-System Test Applications / Janusz Rajski, Maciej Trawka, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // W: 2023 IEEE European Test Symposium (ETS). Proceedings: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2023 - p. 1-6

Chapter in monograph / paper 20
2.

DIST: Deterministic In-System Test with X-masking / Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // W: 2022 IEEE International Test Conference. ITC 2022. Proceedings: Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc, 2022 - p. 20-27

Chapter in monograph / paper 20 70
3.

Hardware Root of Trust for SSN-based DFT Ecosystems / Janusz Rajski, Maciej Trawka, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // W: 2022 IEEE International Test Conference. ITC 2022. Proceedings: Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc, 2022 - p. 450-454

Chapter in monograph / paper 20 70
4.

X-Masking for In-System Deterministic Test / Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // W: Proceedings of the IEEE European Test Symposium 2022: IEEE, 2022 - p. [1]-[6]

Chapter in monograph / paper 20
5.

Convolutional Compaction-Based MRAM Fault Diagnosis / Bartosz Grzelak (WIiT), Martin Keim, Artur Pogiel, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT) // W: IEEE European Test Symposium (ETS) 2021: IEEE, 2021

Chapter in monograph / paper 20

All CHAPTERS

1.

Układy cyfrowe : zbiór zadań z rozwiązaniami / Jerzy Tyszer (WE), Grzegorz Mrugalski (WE) / Poznań, Polska : Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, 2004 - 266 s.

Scholarly textbook / script
2.

Układy cyfrowe : zbiór zadań z rozwiązaniami / Jerzy Tyszer (WE), Grzegorz Mrugalski (WE) / Poznań, Polska : Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, 2002 - 266 s.

Scholarly textbook / script

All BOOKS

1.

VLSI testing - memory test / Jerzy Tyszer (WIiT) // r1869_2021

Educational materials
2.

VLSI testing - test data compression / Jerzy Tyszer (WIiT) // r1868_2021

Educational materials
3.

VLSI Testing – Built-in Self-Test / Jerzy Tyszer (WIiT) // r1211_2020

Educational materials
4.

VLSI Testing – Design for test part 2 / Jerzy Tyszer (WIiT) // r916_2020

Educational materials
5.

VLSI Testing – Design for test / Jerzy Tyszer (WEiT) // r477_2019

Educational materials

All REPORTS

1.

Detekcja i lokalizacja uszkodzeń w przestrzenno-czasowych polach komutacyjnych / Jerzy Tyszer (WE) / prom. Andrzej Jajszczyk (WE), rev. Wojciech Cellary (WE), Zdzisław Kachlicki (WE), Jan Zabrodzki - Poznań, Polska, 1987 - 95 s.

Dissertation

1.

On secure deterministic in-system test solutions / Bartosz Włodarczak (WIiT) / prom. Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT), rev. Giorgio Di Natale, Adit D. Singh, Mehdi Tahoori - Poznań, Poland, 2024 - 150 s.

Dissertation before defense
2.

Hypercompression of test data / Sylwester Milewski (WIiT) / prom. Jerzy Tyszer (WIiT), rev. Matteo Sonza Reorda, Sybille Hellebrand - Poznań, Polska, 2022 - 89 s.

Dissertation
3.

On new class of test points and their applications / Justyna Zawada (WEiT) / prom. Jerzy Tyszer (WEiT), rev. Sybille Hellebrand, Adit D. Singh - Poznań, Polska, 2017 - 130 s.

Dissertation
4.

Testing digital integrated circuits with novel low power high fault coverage techniques and a new scan architecture / Jędrzej Solecki (WEiT) / prom. Jerzy Tyszer (WEiT), rev. Sybille Hellebrand, Andrzej Kraśniewski - Poznań, Polska, 2015 - 104 s.

Dissertation
5.

Test compression bandwidth management in system-on-a-chip designs / Jakub Remigiusz Janicki (WEiT) / prom. Jerzy Tyszer (WEiT), Janusz Rajski, rev. Krishnendu Chakrabarty, Andrzej Kraśniewski - Poznań, Polska, 2014 - 116 s.

Dissertation

All DISSERTATIONS

1.

Nieliniowe funkcje sprzężeń zwrotnych rejestrów maksymalnych i ich zastosowanie w projektowaniu kryptograficznej funkcji skrótu / Izabela Janicka-Lipska / prom. Janusz Stokłosa, rev. Eugeniusz Kuriata, Jerzy Tyszer (WE) - Poznań, Polska, 2002 - 96 s.

Dissertation

All DISSERTATIONS

1.

Projekt mikroprocesora opartego na architekturze RISC-V / WIiT / prom. Jerzy Tyszer, rev. Piotr Remlein, 2024

Engineering thesis
2.

Pattern relaxation-based test data compression / WIiT / prom. Jerzy Tyszer, rev. Filip Idzikowski, 2023

Master thesis
3.

Aplikacja hybrydowych wektorów testowych w układach cyfrowych wielkiej skali integracji / WIiT / prom. Jerzy Tyszer, rev. Filip Idzikowski, 2022

Master thesis
4.

Energooszczędna kompresja danych testowych w układach cyfrowych wielkiej skali integracji / WIiT / prom. Jerzy Tyszer, rev. Filip Idzikowski, 2022

Master thesis
5.

Szybkie generatory sekwencji losowych oparte o gęste generatory pierścieniowe / WIiT / prom. Jerzy Tyszer, rev. Maciej Krasicki, 2022

Engineering thesis

All THESES

1.

Analiza i optymalizacja komercyjnego programu do autotestowania pamięci wbudowanych / WIiT / prom. Artur Pogiel, rev. Jerzy Tyszer, 2020

Engineering thesis
2.

Optimizing test patterns for VLSI digital circuits / WI / prom. Grzegorz Mrugalski, rev. Jerzy Tyszer, 2018

Master thesis
3.

Walidacja układów programowalnego skramblowania w autotestowaniu pamięci półprzeownidkowych. / WEiT / prom. Artur Pogiel, rev. Jerzy Tyszer, 2014

Master thesis
4.

Testowanie systemów jednoukładowych przy wykorzystaniu szeregowej transmisji danych / WEiT / prom. Artur Pogiel, rev. Jerzy Tyszer, 2013

Master thesis
5.

Prezentacja algorytmów wyznaczających przybliżone wartości pierwiatków funkcji / WEiT / prom. Zbigniew Długaszewski, rev. Jerzy Tyszer, 2012

Engineering thesis

All THESES

1.

Trajectory-Optimized Test Pattern Generation for Built-In Self-Test / Jerzy Tyszer (WIiT), Janusz Rajski, Grzegorz Mrugalski, Łukasz Rybak, Nilanjan Mukherjee // 3/Z/2023

Invention
2.

Universal compactor architecture for testing circuits / Jerzy Tyszer (WIiT), Yingdi Liu, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Grzegorz Mrugalski, Bartosz Włodarczak (WIiT) // Z/11/2023

Invention
3.

Deterministic Stellar built-in self test / Jerzy Tyszer (WIiT), Janusz Rajski, Yjingdi Liu, Nijanjan Mukherjee // 2/Z/2023

Invention
4.

Flexible isometric decompressor architecture for test compression / Janusz Rajski, Yu Huang, Sylwester Milewski, Jerzy Tyszer (WIiT) // 0117

Invention
5.

Test Application Time Reduction Using Capture-Per-Cycle Test Points / Janusz Rajski, Sylwester Milewski, Nilanjan Mukherje, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WIiT), Justyna Zawada // 0100

Invention

All OUTCOMES

System created by Poznań University of Technology and Poznan Supercomputing and Networking Center

Scientific Information System of the Poznań University of Technology

Employee

prof. dr hab. inż. Jerzy Tyszer

Articles (32)

Chapters (41)

Books (2)

Reports (7)

Dissertation

Doctoral supervisor of doctoral dissertations (8)

Reviews of doctoral dissertations (1)

Supervisor of theses (18)

Reviews of theses (7)

IP outcomes (18)