SIN PP | prof. dr hab. inż. Jerzy Tyszer

Trwa generowanie pliku...

Menu

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

Strona główna / Ludzie / prof. dr hab. inż. Jerzy Tyszer

Pracownik

Wszystkie publikacje

prof. dr hab. inż. Jerzy Tyszer

Wydział Elektroniki i Telekomunikacji

Katedra Radiokomunikacji

E-mail: jerzy.tyszer(at)put.poznan.pl

Tel. 61 665 38 14

PBN ID

ResearcherID

Trimodal scan-based test paradigm / Jerzy Tyszer (WEiT), Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Jędrzej Solecki, Chen Wang // IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems - 2017, vol. 25, no. 3, s. 1112-1125

Star-EDT: Deterministic on-chip scheme using compressed test patterns / Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Łukasz Rybak, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WEiT) // IEEE Transactions on Computer Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2017, vol. 36, no. 4, s. 683-693

Hardware Protection via Logic Locking Test Points / Michael Chen, Elham Moghaddam, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WEiT), Justyna Zawada (WEiT) // IEEE Transactions on Computer Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2018, vol. 37, no. 12, s. 3020-3030

Embedded Deterministic Test Points / Cesar Acero, Derek Feltham, Yingdi Liu, Elham Moghaddam, Nilanjan Mukherjee, Marek Patyra, Janusz Rajski, Sudhakar M. Reddy, Jerzy Tyszer (WEiT), Justyna Zawada (WEiT) // IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems - 2017, vol. 25, no. 10, s. 2949-2961

On New Test Points for Compact Cell-Aware Tests / Cesar Acero, Derek Feltham, Marek Patyra, Friedrich Hapke, Elham Moghaddam, Nilanjan Mukherjee, Vidya Neerkundar, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WEiT), Justyna Zawada (WEiT) // IEEE Design & Test - 2016, vol. 33, iss. 6, s. 7-14

Wszystkie artykuły

On new class of test points and their applications / Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WEiT), Justyna Zawada (WEiT) // W: 2018 IEEE International Test Conference (ITC) - New York, USA : IEEE, 2018

Deterministic Stellar BIST for in-system automotive test / Yingdi Liu, Nilanjan Mukherje, Janusz Rajski, Sudhakar M. Reddy, Jerzy Tyszer (WEiT) // W: 2018 IEEE International Test Conference (ITC) - New York, USA : IEEE, 2018

Hypercompression of test patterns / Yu Huang, Sylwester Milewski (WEiT), Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WEiT), Chen Wang // W: 2018 IEEE International Test Conference (ITC) - New York, USA : IEEE, 2018

Staggered ATPG with capture-per-cycle observation test points / Yingdi Liu, Janusz Rajski, Sudhakar M. Reddy, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WEiT) // W: IEEE 36th VLSI Test Symposium (VTS 2018): IEEE, 2018

Full-Scan LBIST with Capture-per-Cycle Hybrid Test Points / Sylwester Milewski, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WEiT), Justyna Zawada (WEiT) // W: 2017 IEEE INTERNATIONAL TEST CONFERENCE (ITC) - New York, NY, USA : IEEE, 2017

Wszystkie rozdziały

System tworzony przez Politechnikę Poznańską i
Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe

Wróć do góry

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać publikacje