Przetwarzanie może potrwać kilka sekund...

Książka

Tytuł

2014 IEEE International Test Conference (ITC), Seattle, WA, 20-23 Oct. 2014

Rok publikacji

2014

Wydawca

IEEE

Wydawca z listy MNiSW

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Data opublikowania

2014

ISBN

978-1-4799-4722-5

Rozdziały
Isometric test compression with low toggling activity (s. 1-7)
Konferencja

2014 IEEE International Test Conference (ITC), 20-23.10.2014, Seattle, United States