Tytuł
Wykorzystanie analizy topograficznej w pomiarach nierówności powierzchni
Autorzy
[ 1 ] Instytut Technologii Mechanicznej, Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik
Rok publikacji
2009
Typ książki
monografia naukowa / Rozprawa habilitacyjna
Język publikacji
polski
Miejsce
Poznań, Polska
Wydawca z listy Ministerstwa
Politechnika Poznańska
Data opublikowania
2009
Liczba stron
340
ISBN
978-83-7143-806-6
ISSN
0551-6528
Katalog
Słowa kluczowe
PL
- pomiary (badania)
- przyrządy pomiarowe
- topografia
- mikroskopia elektronowa skaningowa
- inżynieria powierzchni - zagadnienia
- powierzchnia - fizyka
- analiza topograficzna
- chropowatość - pomiary
- chropowatość powierzchni - badanie
- topograficzna ocena powierzchni
- metody próbkowania
- stereometria
- powierzchnie (technologia) - analiza
- próbkowanie spiralne
- pomiary nierówności 3D
Opublikowano w
Numer w serii
nr 429
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN