SINUS | prof. dr hab. inż. Michał Wieczorowski

1.

A review of methods of random surface topography modeling / Paweł Pawlus, Rafał Reizer, Michał Wieczorowski (WIM) // Tribology International - 2020, vol. 152, s. 106530-1-106530-23

Artykuł naukowy 200 4,271
2.

Analysis of Surface Microgeometry Created by Electric Discharge Machining / Tomasz Bartkowiak (WIM), Michał Mendak (WIM), Krzysztof Mrozek (WIM), Michał Wieczorowski (WIM) // Materials - 2020, vol. 13, iss. 17, s. 3830-1-3830-28

Artykuł naukowy 140 3,057
3.

Characterization of the shape of height distribution of two-process profile / Paweł Pawlus, Rafał Reizer, Michał Wieczorowski (WIM) // Measurement - 2020, vol. 153, s. 107387-1-107387-9

Artykuł naukowy 200 3,364
4.

Climatic chamber for the credibility evaluation of profilometric measurements construction and control / Karol Grochalski (WIM), Michał Wieczorowski (WIM), Paweł Pawlus, Bartosz Jakubek (WIM) // Advances in Science and Technology Research Journal - 2020, vol. 14, no. 3, s. 135-140

Artykuł naukowy 70
5.

Conditions of the Presence of Bimodal Amplitude Distribution of Two-Process Surfaces / Paweł Pawlus, Rafał Reizer, Michał Wieczorowski (WIM) // Materials - 2020, vol. 13, iss. 18, s. 4037-1-4037-13

Artykuł naukowy 140 3,057

Wszystkie artykuły

1.

The influence of traverse speed on geometry after abrasive waterjet machining / Maciej Bartkowiak, Michał Wieczorowski (WIM), Natalia Swojak (WIM), Bartosz Gapiński (WIM) // W: Industrial Measurements in Machining / red. Grzegorz M. Królczyk, Piotr Niesłony, Jolanta Królczyk: Springer, 2020 - s. 201-213

Rozdział w monografii naukowej / referat 20
2.

Influence of Cutting Conditions in the Topography of Texturized Surfaces on Aluminium 7075 Plates Produced by Robot Machining / Alejandro Pereira Domínguez, Teresa Prado, Maria Fenollera, Michał Wieczorowski (WBMiZ), Bartosz Gapiński (WBMiZ), Thomas G. Mathia // W: Advances in Manufacturing II. Volume 5 - Metrology and Measurement Systems / red. Magdalena Diering (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Christopher A. Brown - Cham, Switzerland : Springer International Publishing, 2019 - s. 107-121

Rozdział w monografii naukowej / referat 20
3.

The Use of Optical Scanner for Analysis of Surface Defects / Michał Wieczorowski (WBMiZ), Bartosz Gapiński (WBMiZ), Natalia Swojak (WBMiZ) // W: Proceedings of the 30th International DAAAM Symposium ''Intelligent Manufacturing & Automation'' / red. B. Katalinic - Vienna, Austria : DAAAM International, 2019 - s. 0076-0085

Rozdział w monografii naukowej / referat 5
4.

Use of White Light and Laser 3D Scanners for Measurement of Mesoscale Surface Asperities / Bartosz Gapiński (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Lidia Marciniak-Podsadna (WBMiZ), Natalia Swojak (WBMiZ), Michał Mendak (WBMiZ), Dawid Kucharski (WBMiZ), Maciej Szelewski, Aleksandra Krawczyk // W: Advances in Manufacturing II. Volume 5 - Metrology and Measurement Systems / red. Magdalena Diering (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Christopher A. Brown - Cham, Switzerland : Springer International Publishing, 2019 - s. 239-256

Rozdział w monografii naukowej / referat 20
5.

Wykorzystanie tomografii komputerowej w metrologii / Michał Wieczorowski (WBMiZ) // W: Przemysł 4.0 : algorytmizacja problemów oraz digitalizacja procesów i urządzeń / red. Wojciech Kacalak, Wojciech Sysło, Grzegorz Andrzejewski - Gorzów Wielkopolski, Polska : Wydawnictwo Naukowe Akademii im. Jakuba z Paradyża, 2019 - s. 101-112

Rozdział w monografii naukowej 20

Wszystkie rozdziały

1.

Advances in Manufacturing II. Volume 5 - Metrology and Measurement Systems / red. Magdalena Diering (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Christopher A. Brown - Cham, Switzerland : Springer International Publishing, Lecture Notes in Mechanical Engineering, 2019 - 313 s.

Redakcja monografii naukowej / materiałów konferencyjnych 20
2.

The errors of stylus methods in surface topography measurements / Michał Wieczorowski (WBMiZ), P. Pawlus, T. Mathia / Szczecin, Polska : ZAPOL, 2014 - 267 s.

Monografia naukowa

Wszystkie książki

1.

Badania możliwości implementacji odprężania wibracyjnego ram maszyn pakujących / Michał Jakubowicz (WIM), Michał Wieczorowski (WIM), Bartosz Gapiński (WIM), Lidia Marciniak-Podsadna (WIM), Roman Barczewski (WIM), Bartosz Jakubek (WIM) // r1492_2020

Raport z badań
2.

Sprawozdanie z badań nr 16/3.20 "Walidacja metod i algorytmów pozwalających na stabilną pracę linii produkcyjnej oraz uzyskanie wyrobów wysokiej jakości” / Michał Jakubowicz (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Bartosz Gapiński (WBMiZ), Dawid Kucharski (WBMiZ) // r463_2019

Raport z badań
3.

Sprawozdanie z badań nr 8/3.6 "Opracowanie trójwymiarowych modeli CAD rzeczywistych tłoczników produkcyjnych” / Bartosz Gapiński (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Michał Jakubowicz (WBMiZ), Natalia Swojak (WBMiZ), Lidia Marciniak-Podsadna (WBMiZ), Karol Grochalski (WBMiZ) // r465_2019

Raport z badań
4.

Opracowanie strategii pomiaru cech geometrycznych z uwzględnieniem relacji dokładnościowo – czasowych / Bartosz Gapiński (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Michał Jakubowicz (WBMiZ), Natalia Swojak (WBMiZ), Michał Mendak (WBMiZ), Karol Grochalski (WBMiZ), Lidia Marciniak-Podsadna (WBMiZ), Dawid Kucharski (WBMiZ) // r419_2019

Raport z badań
5.

Badania dokładności i powtarzalności działania urządzenia z wykorzystaniem przestrzennej fotogrametrii / Michał Wieczorowski (WBMiZ), Bartosz Gapiński (WBMiZ), Michał Jakubowicz (WBMiZ) // r51_2019

Raport z badań

Wszystkie raporty

1.

Stereometryczna ocena porównawcza powierzchni przy zastosowaniu różnych układów odniesienia profilometrów / Michał Wieczorowski / prom. Jan Chajda, rec. Henryk Żebrowski, Jan Kaczmarek - Poznań, Polska, 1996 - 154 s.

Rozprawa doktorska

1.

Kompensacja wpływu warunków termicznych na profilometryczne pomiary nierówności powierzchni / Karol Grochalski (WBMiZ) / prom. Michał Wieczorowski (WBMiZ), rec. Paweł Pawlus, Czesław Łukianowicz - Poznań, Polska, 2018 - 195 s.

Rozprawa doktorska
2.

Wpływ łączenia skanów na dokładność pomiaru skanerem optycznym / Robert Koteras (WBMiZ) / prom. Michał Wieczorowski (WBMiZ), rec. Jerzy Andrzej Sładek, Andrzej Gessner (WBMiZ) - Poznań, Polska, 2018 - 170 s.

Rozprawa doktorska
3.

Metodyka badania dokładności optycznych skanerów współrzędnościowych / Lidia Marciniak-Podsadna (WBMiZ) / prom. Michał Wieczorowski (WBMiZ), rec. Anna Zawada-Tomkiewicz, Czesław Janusz Jermak (WBMiZ) - Poznań, Polska, 2014 - 123 s.

Rozprawa doktorska
4.

Metodyka określania oraz pomiaru odchylenia i odchyłki dynamicznej kół zębatych / Łukasz Mądry (WBMiZ) / prom. Michał Wieczorowski (WBMiZ), rec. Stanisław Legutko (WBMiZ), Grzegorz Budzik - Poznań, Polska, 2013 - 116 s.

Rozprawa doktorska
5.

Koncepcja systemu nadzorowania wspołrzędnościowych maszyn pomiarowych w warunkach produkcyjnych / Piotr Znaniecki (WBMiZ) / prom. Michał Wieczorowski (WBMiZ), rec. Jerzy Andrzej Sładek, Stanisław Legutko (WBMiZ) - Poznań, Polska, 2013 - 142 s.

Rozprawa doktorska

Wszystkie rozprawy doktorskie

System tworzony przez Politechnikę Poznańską i
Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe

Wróć do góry

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

Pracownik

prof. dr hab. inż. Michał Wieczorowski

Artykuły (71)

Rozdziały (13)

Książki (2)

Raporty (8)

Rozprawa doktorska

Promotorstwo rozpraw doktorskich (5)