SIN PP | prof. dr hab. inż. Michał Wieczorowski

Przetwarzanie może potrwać kilka sekund...

Menu

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

Strona główna / Ludzie / prof. dr hab. inż. Michał Wieczorowski

Pracownik

Wszystkie publikacje Wszystkie raporty

prof. dr hab. inż. Michał Wieczorowski

Jednostka organizacyjna

Wydział Inżynierii Mechanicznej

Instytut Technologii Mechanicznej

E-mail

michal.wieczorowski@put.poznan.pl

Telefon

61 665 35 67

PBN ID

1480773

ResearcherID

ORCID

0000-0001-7526-8368

Dyscyplina naukowa (Ustawa 2.0)

2.8 Inżynieria mechaniczna: 100%

Analysis of Surface Microgeometry Created by Electric Discharge Machining / Tomasz Bartkowiak (WIM), Michał Mendak (WIM), Krzysztof Mrozek (WIM), Michał Wieczorowski (WIM) // Materials - 2020, vol. 13, iss. 17, s. 3830-1-3830-28

Artykuł naukowy 140 3,057

Characterization of the shape of height distribution of two-process profile / Paweł Pawlus, Rafał Reizer, Michał Wieczorowski (WIM) // Measurement - 2020, vol. 153, s. 107387-1-107387-9

Artykuł naukowy 200 3,364

Climatic chamber for the credibility evaluation of profilometric measurements construction and control / Karol Grochalski (WIM), Michał Wieczorowski (WIM), Paweł Pawlus, Bartosz Jakubek (WIM) // Advances in Science and Technology Research Journal - 2020, vol. 14, no. 3, s. 135-140

Artykuł naukowy 70

Evaluation of physical indicators and tool wear during grooving of spheroidal cast iron with a novel WCCo/cBN(BNDCC) inserts / Szymon Wojciechowski (WIM), Rafał Talar (WIM), Paweł Zawadzki (WIM), Michał Wieczorowski (WIM) // Wear - 2020, vol. in press, s. 203301-1-203301-22

Artykuł naukowy 200 4,108

Material ratio curve as information on the state of surface topography — A review / Paweł Pawlus, Rafał Reizer, Michał Wieczorowski (WIM), Grzegorz Królczyk // Precision Engineering - 2020, vol. 65, s. 240-258

Artykuł naukowy 200 3,108

Wszystkie artykuły

The influence of traverse speed on geometry after abrasive waterjet machining / Maciej Bartkowiak, Michał Wieczorowski (WIM), Natalia Swojak (WIM), Bartosz Gapiński (WIM) // W: Industrial Measurements in Machining / red. Grzegorz M. Królczyk, Piotr Niesłony, Jolanta Królczyk: Springer, 2020 - s. 201-213

Rozdział w monografii naukowej / referat 20

Influence of Cutting Conditions in the Topography of Texturized Surfaces on Aluminium 7075 Plates Produced by Robot Machining / Alejandro Pereira Domínguez, Teresa Prado, Maria Fenollera, Michał Wieczorowski (WBMiZ), Bartosz Gapiński (WBMiZ), Thomas G. Mathia // W: Advances in Manufacturing II. Volume 5 - Metrology and Measurement Systems / red. Magdalena Diering (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Christopher A. Brown - Cham, Switzerland : Springer International Publishing, 2019 - s. 107-121

Rozdział w monografii naukowej / referat 20

The Use of Optical Scanner for Analysis of Surface Defects / Michał Wieczorowski (WBMiZ), Bartosz Gapiński (WBMiZ), Natalia Swojak (WBMiZ) // W: Proceedings of the 30th International DAAAM Symposium ''Intelligent Manufacturing & Automation'' / red. B. Katalinic - Vienna, Austria : DAAAM International, 2019 - s. 0076-0085

Rozdział w monografii naukowej / referat 5

Use of White Light and Laser 3D Scanners for Measurement of Mesoscale Surface Asperities / Bartosz Gapiński (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Lidia Marciniak-Podsadna (WBMiZ), Natalia Swojak (WBMiZ), Michał Mendak (WBMiZ), Dawid Kucharski (WBMiZ), Maciej Szelewski, Aleksandra Krawczyk // W: Advances in Manufacturing II. Volume 5 - Metrology and Measurement Systems / red. Magdalena Diering (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Christopher A. Brown - Cham, Switzerland : Springer International Publishing, 2019 - s. 239-256

Rozdział w monografii naukowej / referat 20

Wykorzystanie tomografii komputerowej w metrologii / Michał Wieczorowski (WBMiZ) // W: Przemysł 4.0 : algorytmizacja problemów oraz digitalizacja procesów i urządzeń / red. Wojciech Kacalak, Wojciech Sysło, Grzegorz Andrzejewski - Gorzów Wielkopolski, Polska : Wydawnictwo Naukowe Akademii im. Jakuba z Paradyża, 2019 - s. 101-112

Rozdział w monografii naukowej 20

Wszystkie rozdziały

Advances in Manufacturing II. Volume 5 - Metrology and Measurement Systems / red. Magdalena Diering (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Christopher A. Brown - Cham, Switzerland : Springer International Publishing, Lecture Notes in Mechanical Engineering, 2019 - 313 s.

Redakcja monografii naukowej / materiałów konferencyjnych 20

The errors of stylus methods in surface topography measurements / Michał Wieczorowski (WBMiZ), P. Pawlus, T. Mathia / Szczecin, Polska : ZAPOL, 2014 - 267 s.

Monografia naukowa

Wszystkie książki

Sprawozdanie z badań nr 16/3.20 "Walidacja metod i algorytmów pozwalających na stabilną pracę linii produkcyjnej oraz uzyskanie wyrobów wysokiej jakości” / Michał Jakubowicz (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Bartosz Gapiński (WBMiZ), Dawid Kucharski (WBMiZ) // r463_2019

Raport z badań

Sprawozdanie z badań nr 8/3.6 "Opracowanie trójwymiarowych modeli CAD rzeczywistych tłoczników produkcyjnych” / Bartosz Gapiński (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Michał Jakubowicz (WBMiZ), Natalia Swojak (WBMiZ), Lidia Marciniak-Podsadna (WBMiZ), Karol Grochalski (WBMiZ) // r465_2019

Raport z badań

Opracowanie strategii pomiaru cech geometrycznych z uwzględnieniem relacji dokładnościowo – czasowych / Bartosz Gapiński (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Michał Jakubowicz (WBMiZ), Natalia Swojak (WBMiZ), Michał Mendak (WBMiZ), Karol Grochalski (WBMiZ), Lidia Marciniak-Podsadna (WBMiZ), Dawid Kucharski (WBMiZ) // r419_2019

Raport z badań

Badania dokładności i powtarzalności działania urządzenia z wykorzystaniem przestrzennej fotogrametrii / Michał Wieczorowski (WBMiZ), Bartosz Gapiński (WBMiZ), Michał Jakubowicz (WBMiZ) // r51_2019

Raport z badań

Wykonanie usługi badawczej w ramach badań przemysłowych pt. Analiza parametrów procesu kształtowania ukierunkowania na wyznaczenie optymalnych nacisków oraz czasów poszczególnych operacji kształtowania / Michał Jakubowicz (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Bartosz Gapiński (WBMiZ), Michał Mendak (WBMiZ), Karol Grochalski (WBMiZ) // r53_2019

Raport z badań

Wszystkie raporty

Stereometryczna ocena porównawcza powierzchni przy zastosowaniu różnych układów odniesienia profilometrów / Michał Wieczorowski / prom. Jan Chajda, rec. Henryk Żebrowski, Jan Kaczmarek - Poznań, Polska, 1996 - 154 s.

Rozprawa doktorska

Kompensacja wpływu warunków termicznych na profilometryczne pomiary nierówności powierzchni / Karol Grochalski (WBMiZ) / prom. Michał Wieczorowski (WBMiZ), rec. Paweł Pawlus, Czesław Łukianowicz - Poznań, Polska, 2018 - 195 s.

Rozprawa doktorska

Wpływ łączenia skanów na dokładność pomiaru skanerem optycznym / Robert Koteras / prom. Michał Wieczorowski (WBMiZ), rec. Jerzy Andrzej Sładek, Andrzej Gessner (WBMiZ) - Poznań, Polska, 2018 - 170 s.

Rozprawa doktorska

Metodyka badania dokładności optycznych skanerów współrzędnościowych / Lidia Marciniak-Podsadna / prom. Michał Wieczorowski (WBMiZ), rec. Anna Zawada-Tomkiewicz, Czesław Janusz Jermak (WBMiZ) - Poznań, Polska, 2014 - 123 s.

Rozprawa doktorska

Metodyka określania oraz pomiaru odchylenia i odchyłki dynamicznej kół zębatych / Łukasz Mądry / prom. Michał Wieczorowski (WBMiZ), rec. Stanisław Legutko (WBMiZ), Grzegorz Budzik - Poznań, Polska, 2013 - 116 s.

Rozprawa doktorska

Koncepcja systemu nadzorowania wspołrzędnościowych maszyn pomiarowych w warunkach produkcyjnych / Piotr Znaniecki / prom. Michał Wieczorowski (WBMiZ), rec. Jerzy Andrzej Sładek, Stanisław Legutko (WBMiZ) - Poznań, Polska, 2013 - 142 s.

Rozprawa doktorska

Wszystkie rozprawy doktorskie

System tworzony przez Politechnikę Poznańską i
Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe

Wróć do góry

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN

Aktualizacja punktacji w SIN

Zgodnie z Rozporządzeniem Ministra Nauki i Szkolnictwa Wyższego z dnia 31 lipca 2020 r. zmieniającym rozporządzenie w sprawie ewaluacji jakości działalności naukowej w SIN zaktualizowana została punktacja artykułów naukowych opublikowanych w l. 2017-2018.