SIN PP | prof. dr hab. inż. Michał Wieczorowski

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

Strona główna / Ludzie / prof. dr hab. inż. Michał Wieczorowski

Pracownik

Wszystkie publikacje Wszystkie raporty

prof. dr hab. inż. Michał Wieczorowski

Wydział Inżynierii Mechanicznej

Instytut Technologii Mechanicznej

E-mail: michal.wieczorowski(at)put.poznan.pl

Tel. 61 665 35 67

PBN ID

1480773

ResearcherID

H-4908-2014

ORCID

0000-0001-7526-8368

Dyscyplina naukowa (Ustawa 2.0)

2.8 Inżynieria mechaniczna: 100%

Characterization of the shape of height distribution of two-process profile / Paweł Pawlus, Rafał Reizer, Michał Wieczorowski (WIM) // Measurement - 2020, vol. 153, s. 107387-1-107387-9

Artykuł naukowy 200 2,791

Evaluation of physical indicators and tool wear during grooving of spheroidal cast iron with a novel WCCo/cBN(BNDCC) inserts / Szymon Wojciechowski (WIM), Rafał Talar (WIM), Paweł Zawadzki (WIM), Michał Wieczorowski (WIM) // Wear - 2020, vol. in press, s. 203301-1-203301-22

Artykuł naukowy 200 2,950

The optical aspect of errors in measurements of surface asperities using the optical profilometry method / Karol Grochalski (WIM), Michał Wieczorowski (WIM), Jihad H'Roura, Gaetan Le Gioc // Frontiers of Mechanical Engineering - 2020, vol. in press

Artykuł naukowy 70 0,989

Thermal Sources of Errors in Surface Texture Imaging / Karol Grochalski (WIM), Michał Wieczorowski (WIM), Paweł Pawlus, Jihad H'Roura // Materials - 2020, vol. 13, iss. 10, s. 2337-1-2337-18

Artykuł naukowy 140 2,972

Analysis of the Influence of Support During Measurement Using Coordinate Measuring Techniques / Roman Michalski (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Przemysław J. Glazowski, Bartosz Gapiński (WBMiZ) // Advances in Science and Technology Research Journal - 2019, vol. 13, no. 4, s. 22-29

Artykuł naukowy 70

Wszystkie artykuły

Influence of Cutting Conditions in the Topography of Texturized Surfaces on Aluminium 7075 Plates Produced by Robot Machining / Alejandro Pereira Domínguez, Teresa Prado, Maria Fenollera, Michał Wieczorowski (WBMiZ), Bartosz Gapiński (WBMiZ), Thomas G. Mathia // W: Advances in Manufacturing II. Volume 5 - Metrology and Measurement Systems / red. Magdalena Diering (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Christopher A. Brown - Cham, Switzerland : Springer International Publishing, 2019 - s. 107-121

Rozdział w monografii naukowej / referat 20

The Use of Optical Scanner for Analysis of Surface Defects / Michał Wieczorowski (WBMiZ), Bartosz Gapiński (WBMiZ), Natalia Swojak (WBMiZ) // W: Proceedings of the 30th International DAAAM Symposium ''Intelligent Manufacturing & Automation'' / red. B. Katalinic - Vienna, Austria : DAAAM International, 2019 - s. 0076-0085

Rozdział w monografii naukowej / referat 5

Use of White Light and Laser 3D Scanners for Measurement of Mesoscale Surface Asperities / Bartosz Gapiński (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Lidia Marciniak-Podsadna (WBMiZ), Natalia Swojak (WBMiZ), Michał Mendak (WBMiZ), Dawid Kucharski (WBMiZ), Maciej Szelewski, Aleksandra Krawczyk // W: Advances in Manufacturing II. Volume 5 - Metrology and Measurement Systems / red. Magdalena Diering (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Christopher A. Brown - Cham, Switzerland : Springer International Publishing, 2019 - s. 239-256

Rozdział w monografii naukowej / referat 20

Wykorzystanie tomografii komputerowej w metrologii / Michał Wieczorowski (WBMiZ) // W: Przemysł 4.0 : algorytmizacja problemów oraz digitalizacja procesów i urządzeń / red. Wojciech Kacalak, Wojciech Sysło, Grzegorz Andrzejewski - Gorzów Wielkopolski, Polska : Wydawnictwo Naukowe Akademii im. Jakuba z Paradyża, 2019 - s. 101-112

Rozdział w monografii naukowej 20

Analysis of 3D printing parameters of gears for hybrid manufacturing / Grzegorz Budzik, Łukasz Przeszlowski, Michał Wieczorowski (WBMiZ), Arkadiusz Rzucidlo, Bartosz Gapiński (WBMiZ), Grzegorz Krolczyk // W: Proceedings of the 21st International ESAFORM Conference on Material Forming : ESAFORM 2018 / red. Livan Fratini: AIP Publishing, 2018 - s. 140005-1-140005-6

Rozdział w monografii naukowej / referat 20 15

Wszystkie rozdziały

Advances in Manufacturing II. Volume 5 - Metrology and Measurement Systems / red. Magdalena Diering (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Christopher A. Brown - Cham, Switzerland : Springer International Publishing, Lecture Notes in Mechanical Engineering, 2019 - 313 s.

Redakcja monografii naukowej / materiałów konferencyjnych 20

The errors of stylus methods in surface topography measurements / Michał Wieczorowski (WBMiZ), P. Pawlus, T. Mathia / Szczecin, Polska : ZAPOL, 2014 - 267 s.

Monografia naukowa

Wszystkie książki

Sprawozdanie z badań nr 16/3.20 "Walidacja metod i algorytmów pozwalających na stabilną pracę linii produkcyjnej oraz uzyskanie wyrobów wysokiej jakości” / Michał Jakubowicz (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Bartosz Gapiński (WBMiZ), Dawid Kucharski (WBMiZ) // r463_2019

Raport z badań

Sprawozdanie z badań nr 8/3.6 "Opracowanie trójwymiarowych modeli CAD rzeczywistych tłoczników produkcyjnych” / Bartosz Gapiński (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Michał Jakubowicz (WBMiZ), Natalia Swojak (WBMiZ), Lidia Marciniak-Podsadna (WBMiZ), Karol Grochalski (WBMiZ) // r465_2019

Raport z badań

Opracowanie strategii pomiaru cech geometrycznych z uwzględnieniem relacji dokładnościowo – czasowych / Bartosz Gapiński (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Michał Jakubowicz (WBMiZ), Natalia Swojak (WBMiZ), Michał Mendak (WBMiZ), Karol Grochalski (WBMiZ), Lidia Marciniak-Podsadna (WBMiZ), Dawid Kucharski (WBMiZ) // r419_2019

Raport z badań

Badania dokładności i powtarzalności działania urządzenia z wykorzystaniem przestrzennej fotogrametrii / Michał Wieczorowski (WBMiZ), Bartosz Gapiński (WBMiZ), Michał Jakubowicz (WBMiZ) // r51_2019

Raport z badań

Wykonanie usługi badawczej w ramach badań przemysłowych pt. Analiza parametrów procesu kształtowania ukierunkowania na wyznaczenie optymalnych nacisków oraz czasów poszczególnych operacji kształtowania / Michał Jakubowicz (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Bartosz Gapiński (WBMiZ), Michał Mendak (WBMiZ), Karol Grochalski (WBMiZ) // r53_2019

Raport z badań

Wszystkie raporty

Stereometryczna ocena porównawcza powierzchni przy zastosowaniu różnych układów odniesienia profilometrów / Michał Wieczorowski / prom. Jan Chajda, rec. Henryk Żebrowski, Jan Kaczmarek - Poznań, Polska, 1996 - 154 s.

Rozprawa doktorska

Kompensacja wpływu warunków termicznych na profilometryczne pomiary nierówności powierzchni / Karol Grochalski (WBMiZ) / prom. Michał Wieczorowski (WBMiZ), rec. Paweł Pawlus, Czesław Łukianowicz - Poznań, Polska, 2018 - 195 s.

Rozprawa doktorska

Wpływ łączenia skanów na dokładność pomiaru skanerem optycznym / Robert Koteras / prom. Michał Wieczorowski (WBMiZ), rec. Jerzy Andrzej Sładek, Andrzej Gessner (WBMiZ) - Poznań, Polska, 2018 - 170 s.

Rozprawa doktorska

Metodyka badania dokładności optycznych skanerów współrzędnościowych / Lidia Marciniak-Podsadna / prom. Michał Wieczorowski (WBMiZ), rec. Anna Zawada-Tomkiewicz, Czesław Janusz Jermak (WBMiZ) - Poznań, Polska, 2014 - 123 s.

Rozprawa doktorska

Metodyka określania oraz pomiaru odchylenia i odchyłki dynamicznej kół zębatych / Łukasz Mądry / prom. Michał Wieczorowski (WBMiZ), rec. Stanisław Legutko (WBMiZ), Grzegorz Budzik - Poznań, Polska, 2013 - 116 s.

Rozprawa doktorska

Koncepcja systemu nadzorowania wspołrzędnościowych maszyn pomiarowych w warunkach produkcyjnych / Piotr Znaniecki / prom. Michał Wieczorowski (WBMiZ), rec. Jerzy Andrzej Sładek, Stanisław Legutko (WBMiZ) - Poznań, Polska, 2013 - 142 s.

Rozprawa doktorska

Wszystkie rozprawy doktorskie

System tworzony przez Politechnikę Poznańską i
Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe

Wróć do góry

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

Pracownik

prof. dr hab. inż. Michał Wieczorowski

Artykuły (64)

Rozdziały (12)

Książki (2)

Raporty (7)

Rozprawa doktorska

Promotorstwo rozpraw doktorskich (5)