SIN PP | prof. dr hab. inż. Michał Wieczorowski

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

Strona główna / Ludzie / prof. dr hab. inż. Michał Wieczorowski

Pracownik

Wszystkie raporty Wszystkie publikacje

prof. dr hab. inż. Michał Wieczorowski

Wydział Inżynierii Mechanicznej

Instytut Technologii Mechanicznej

E-mail: michal.wieczorowski(at)put.poznan.pl

Tel. 61 665 35 67

PBN ID

1480773

ResearcherID

H-4908-2014

ORCID

0000-0001-7526-8368

Dyscyplina naukowa (Ustawa 2.0)

2.8 Inżynieria mechaniczna: 100%

Kompensacja wpływu warunków termicznych na profilometryczne pomiary nierówności powierzchni / Karol Grochalski (WBMiZ) / prom. Michał Wieczorowski (WBMiZ), rec. Paweł Pawlus, Czesław Łukianowicz - Poznań, Polska, 2018 - 195 s.

Wpływ łączenia skanów na dokładność pomiaru skanerem optycznym / Robert Koteras / prom. Michał Wieczorowski (WBMiZ), rec. Jerzy Andrzej Sładek, Andrzej Gessner (WBMiZ) - Poznań, Polska, 2018 - 170 s.

Metodyka badania dokładności optycznych skanerów współrzędnościowych / Lidia Marciniak-Podsadna (WBMiZ) / prom. Michał Wieczorowski (WBMiZ), rec. Anna Zawada-Tomkiewicz, Czesław Janusz Jermak (WBMiZ) - Poznań, Polska, 2014 - 123 s.

Metodyka określania oraz pomiaru odchylenia i odchyłki dynamicznej kół zębatych / Łukasz Mądry / prom. Michał Wieczorowski (WBMiZ), rec. Stanisław Legutko (WBMiZ), Grzegorz Budzik - Poznań, Polska, 2013 - 116 s.

Koncepcja systemu nadzorowania wspołrzędnościowych maszyn pomiarowych w warunkach produkcyjnych / Piotr Znaniecki / prom. Michał Wieczorowski (WBMiZ), rec. Jerzy Andrzej Sładek, Stanisław Legutko (WBMiZ) - Poznań, Polska, 2013 - 142 s.

Characterization of the shape of height distribution of two-process profile / Paweł Pawlus, Rafał Reizer, Michał Wieczorowski (WIM) // Measurement - 2020, vol. 153, s. 107387-1-107387-9

200 2,791

Analysis of the Influence of Support During Measurement Using Coordinate Measuring Techniques / Roman Michalski (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Przemysław J. Glazowski, Bartosz Gapiński (WBMiZ) // Advances in Science and Technology Research Journal - 2019, vol. 13, no. 4, s. 22-29

Bestykowe pomiary nierówności powierzchni. Cz. I / Bartosz Gapiński (WBMiZ), Damian Śmierzchalski, Michał Mendak (WBMiZ), Paweł Ziętkiewicz, Michał Wieczorowski (WBMiZ) // Stal, Metale & Nowe Technologie - 2019, nr 3-4, s. 68-69

Bestykowe pomiary nierówności powierzchni. Cz. II / Bartosz Gapiński (WBMiZ), Damian Śmierzchalski, Michał Mendak (WBMiZ), Paweł Ziętkiewicz, Michał Wieczorowski (WBMiZ) // Stal, Metale & Nowe Technologie - 2019, nr 5-6, s. 134-135

Co nowego w metrologii współrzędnościowej i tolerowaniu - Z działalności Komitetu Technicznego ISO/TC 213 / Michał Wieczorowski (WBMiZ), Bartosz Gapiński (WBMiZ), Zbigniew Humienny, Katarzyna Falińska // Mechanik - 2019, nr 4, s. 268-269

Wszystkie artykuły

Influence of Cutting Conditions in the Topography of Texturized Surfaces on Aluminium 7075 Plates Produced by Robot Machining / Alejandro Pereira Domínguez, Teresa Prado, Maria Fenollera, Michał Wieczorowski (WBMiZ), Bartosz Gapiński (WBMiZ), Thomas G. Mathia // W: Advances in Manufacturing II. Volume 5 - Metrology and Measurement Systems / red. Magdalena Diering (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Christopher A. Brown - Cham, Switzerland : Springer International Publishing, 2019 - s. 107-121

The Use of Optical Scanner for Analysis of Surface Defects / Michał Wieczorowski (WBMiZ), Bartosz Gapiński (WBMiZ), Natalia Swojak (WBMiZ) // W: Proceedings of the 30th International DAAAM Symposium ''Intelligent Manufacturing & Automation'' / red. B. Katalinic - Vienna, Austria : DAAAM International, 2019 - s. 0076-0085

Use of White Light and Laser 3D Scanners for Measurement of Mesoscale Surface Asperities / Bartosz Gapiński (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Lidia Marciniak-Podsadna (WBMiZ), Natalia Swojak (WBMiZ), Michał Mendak (WBMiZ), Dawid Kucharski (WBMiZ), Maciej Szelewski, Aleksandra Krawczyk // W: Advances in Manufacturing II. Volume 5 - Metrology and Measurement Systems / red. Magdalena Diering (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Christopher A. Brown - Cham, Switzerland : Springer International Publishing, 2019 - s. 239-256

Wykorzystanie tomografii komputerowej w metrologii / Michał Wieczorowski (WBMiZ) // W: Przemysł 4.0 : algorytmizacja problemów oraz digitalizacja procesów i urządzeń / red. Wojciech Kacalak, Wojciech Sysło, Grzegorz Andrzejewski - Gorzów Wielkopolski, Polska : Wydawnictwo Naukowe Akademii im. Jakuba z Paradyża, 2019 - s. 101-112

Analysis of 3D printing parameters of gears for hybrid manufacturing / Grzegorz Budzik, Łukasz Przeszlowski, Michał Wieczorowski (WBMiZ), Arkadiusz Rzucidlo, Bartosz Gapiński (WBMiZ), Grzegorz Krolczyk // W: Proceedings of the 21st International ESAFORM Conference on Material Forming : ESAFORM 2018 / red. Livan Fratini: AIP Publishing, 2018 - s. 140005-1-140005-6

20 15

Wszystkie rozdziały

Advances in Manufacturing II. Volume 5 - Metrology and Measurement Systems / red. Magdalena Diering (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Christopher A. Brown - Cham, Switzerland : Springer International Publishing, Lecture Notes in Mechanical Engineering, 2019 - 313 s.

The errors of stylus methods in surface topography measurements / Michał Wieczorowski (WBMiZ), P. Pawlus, T. Mathia / Szczecin, Polska : ZAPOL, 2014 - 267 s.

Wszystkie książki

Sprawozdanie z badań nr 16/3.20 "Walidacja metod i algorytmów pozwalających na stabilną pracę linii produkcyjnej oraz uzyskanie wyrobów wysokiej jakości” / Michał Jakubowicz (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Bartosz Gapiński (WBMiZ), Dawid Kucharski (WBMiZ) // r463_2019

Sprawozdanie z badań nr 8/3.6 "Opracowanie trójwymiarowych modeli CAD rzeczywistych tłoczników produkcyjnych” / Bartosz Gapiński (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Michał Jakubowicz (WBMiZ), Natalia Swojak (WBMiZ), Lidia Marciniak-Podsadna (WBMiZ), Karol Grochalski (WBMiZ) // r465_2019

Opracowanie strategii pomiaru cech geometrycznych z uwzględnieniem relacji dokładnościowo – czasowych / Bartosz Gapiński (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Michał Jakubowicz (WBMiZ), Natalia Swojak (WBMiZ), Michał Mendak (WBMiZ), Karol Grochalski (WBMiZ), Lidia Marciniak-Podsadna (WBMiZ), Dawid Kucharski (WBMiZ) // r419_2019

Badania dokładności i powtarzalności działania urządzenia z wykorzystaniem przestrzennej fotogrametrii / Michał Wieczorowski (WBMiZ), Bartosz Gapiński (WBMiZ), Michał Jakubowicz (WBMiZ) // r51_2019

Wykonanie usługi badawczej w ramach badań przemysłowych pt. Analiza parametrów procesu kształtowania ukierunkowania na wyznaczenie optymalnych nacisków oraz czasów poszczególnych operacji kształtowania / Michał Jakubowicz (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Bartosz Gapiński (WBMiZ), Michał Mendak (WBMiZ), Karol Grochalski (WBMiZ) // r53_2019

Wszystkie raporty

System tworzony przez Politechnikę Poznańską i
Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe

Wróć do góry

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

Pracownik

prof. dr hab. inż. Michał Wieczorowski

Promotorstwo rozpraw doktorskich

Artykuły (61)

Rozdziały (11)

Książki (2)

Raporty (7)