Tytuł
Optymalizacja wrażliwości i uzysku produkcyjnego w scalonych układach CMOS o wielkiej skali integracji (VLSI)
Autorzy
[ 1 ] Instytut Sterowania i Inżynierii Systemów (ISt), Wydział Informatyki i Zarządzania, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik
Rok publikacji
2002
Typ książki
monografia naukowa / Rozprawa habilitacyjna
Język publikacji
polski
Miejsce
Poznań, Polska
Wydawca z listy Ministerstwa
Politechnika Poznańska
Data opublikowania
2002
Liczba stron
142
ISBN
83-7143-483-9
ISSN
0551-6528
Katalog
Słowa kluczowe
PL
- układy analogowe
- optymalizacja matematyczna
- optymalizacja - stosowanie - technika
- układy elektroniczne - teoria
- układy scalone - projektowanie
- VLSI - układ scalony o wielkiej skali integracji
- optymalizacja uzysku
- MOS tranzystory komplementarne - projektowanie i konstrukcja
- układy VLSI - projektowanie i konstrukcja
- tranzystory - stosowanie
Opublikowano w
Numer w serii
nr 371
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN