W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

PL EN
PL EN
Strona główna / Publikacje / 2nd International Conference on Surface Metrology, Worcester, USA, October 25-27, 2010
Zgłoś uwagę

Książka

Pobierz BibTeX

Tytuł

2nd International Conference on Surface Metrology, Worcester, USA, October 25-27, 2010

Rok publikacji

2010

Typ książki

materiały konferencyjne

Język publikacji

angielski

Data opublikowania

2010

Rozdziały
Surface morphology in counterfeiting (s. 166-168)
Prediction of cylinder liner surface topography during plateau honing process
Some aspects of hardened steel HSM : process dynamics and modelling in relarion fo surface roughness (s. 102-112)
Conception of surfaces topography measurement application for morphometric analysis of actinopterygian
Konferencja

2nd International Conference on Surface Metrology, 25-27.10.2010, Worcester, USA

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Szanowni Państwo,

w PBN 26.06.24 zaktualizowana została punktacja czasopism (zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5.01.24).
Nadal jednak nie zaktualizowano punktacji konferencji – co więcej, nie jest znany nawet przybliżony termin wdrożenia tej części Wykazu. Widoczna w SIN punktacja jest odzwierciedleniem punktacji w PBN (wymuszają to procedury przesyłu danych o publikacjach), zatem punkty za konferencje widoczne w SIN będą mogły zostać zmienione, dopiero gdy zostaną zaktualizowane w PBN.

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.