Przetwarzanie może potrwać kilka sekund...

Książka

Tytuł

IEEE European Test Symposium (ETS) 2020

Rok publikacji

2020

Typ książki

monografia naukowa / materiały konferencyjne

Język publikacji

angielski

Wydawca

IEEE

Wydawca z listy MNiSW

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Data opublikowania

2020

Liczba stron

150

ISBN

978-1-7281-4313-2

eISBN

978-1-7281-4312-5

Rozdziały
Test Sequence-Optimized BIST for Automotive Applications
Konferencja

IEEE European Test Symposium (ETS) 2020, 25-29.05.2020, Tallinn, Estonia