Trace of Flicker Sources by Using Non-Parametric Statistical Analysis of Voltage Changes

Piotr Kuwałek

doi:10.1109/ICHQP46026.2020.9177871

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

PL EN

Strona główna / Publikacje / Trace of Flicker Sources by Using Non-Parametric Statistical Analysis of Voltage Changes

Zgłoś uwagę

Rozdział

Pobierz BibTeX

Tytuł

Trace of Flicker Sources by Using Non-Parametric Statistical Analysis of Voltage Changes

Autorzy

Piotr Kuwałek (WARiE) ^{[ 1 ][ 2.2 ][ P ]}

^{[ 1 ]} Instytut Elektrotechniki i Elektroniki Przemysłowej, Wydział Automatyki, Robotyki i Elektrotechniki, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} pracownik

Dyscyplina naukowa (Ustawa 2.0)

[2.2] Automatyka, elektronika i elektrotechnika

Rok publikacji

2020

Typ rozdziału

rozdział w monografii naukowej / referat

Język publikacji

angielski

Słowa kluczowe

EN

kernel density estimation
power quality
sourceof disturbance
voltage fluctuation indices
voltage variation

Strony (od-do)

1 - 6

DOI

10.1109/ICHQP46026.2020.9177871

URL

https://ieeexplore.ieee.org/document/9177871

Książka

2020 19th International Conference on Harmonics and Quality of Power (ICHQP)

Zaprezentowany na

19th International Conference on Harmonics and Quality of Power (ICHQP 2020), 6-7.07.2020, Dubaj, United Arab Emirates

Punktacja Ministerstwa / rozdział

20

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN