Tytuł
23rd IEEE VLSI Test Symposium. 1-5 May 2005, Palm Springs, California. Proceedings
Rok publikacji
2005
Typ książki
materiały konferencyjne
Język publikacji
angielski
Miejsce
Los Alamitos, United States
Wydawca
Wydawca z listy Ministerstwa
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Data opublikowania
2005
Liczba stron
484
ISBN
0-7695-2314-5
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN