Tytuł
Succesive nanoroughening of Si(111): a combined synchrotron radiation photoelectron spectroscopy and AFM study
Autorzy
[ 1 ] Instytut Inżynierii Materiałowej, Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik
Rok publikacji
2002
Typ rozdziału
abstrakt
Język publikacji
angielski
Strony (od-do)
347 - 348
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN