W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Książka

Pobierz BibTeX

Tytuł

2022 IEEE International Test Conference. ITC 2022. Proceedings

Rok publikacji

2022

Typ książki

monografia naukowa / materiały konferencyjne

Język publikacji

angielski

Wydawca

Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc

Wydawca z listy Ministerstwa

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Data opublikowania

2022

Liczba stron

686

ISBN

978-1-6654-6270-9

DOI

10.1109/ITC50671.2022

URL

https://ieeexplore.ieee.org/xpl/conhome/9983856/proceeding

Rozdziały
DIST: Deterministic In-System Test with X-masking (s. 20-27)
Hardware Root of Trust for SSN-based DFT Ecosystems (s. 450-454)
Konferencja

IEEE International Test Conference ITC 2022, 23-30.09.2022, Anaheim, United States

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.