W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

PL EN
PL EN
Strona główna / Publikacje / Kształcenie w zakresie metrologii w obliczu wyzwań nowych technologii : Joint IMEKO TC-1 & XXXIV MKM Conference 2002, Politechnika Wrocławska, Wrocław, 8-12 września 2002. Vol. 2, Materiały XXXIV MKM
Zgłoś uwagę

Książka

Pobierz BibTeX

Tytuł

Kształcenie w zakresie metrologii w obliczu wyzwań nowych technologii : Joint IMEKO TC-1 & XXXIV MKM Conference 2002, Politechnika Wrocławska, Wrocław, 8-12 września 2002. Vol. 2, Materiały XXXIV MKM

Redaktorzy

Rok publikacji

2002

Typ książki

materiały konferencyjne

Język publikacji

polski

Miejsce

Wrocław, Polska

Wydawca

Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej

Wydawca z listy Ministerstwa

Politechnika Wrocławska

Data opublikowania

2002

Liczba stron

428

ISBN

83-7085-648-9

Rozdziały
Wpływ liczby stopni swobody na dokładność oceny współczynnika rozszerzenia (s. 39-46)
Konferencja

Joint IMEKO TC-1 & XXXIV MKM Conference 2002 : Kształcenie w zakresie metrologii w obliczu wyzwań nowych technologii, 8-12.09.2002, Wrocław, Polska

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Szanowni Państwo,

w SIN zaktualizowana została punktacja czasopism zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5. stycznia 2024 r.
Stało się to możliwe dopiero teraz, ponieważ, jak wcześniej Państwa informowaliśmy, SIN jest w tym zakresie zintegrowany z PBN (co wynika z procedur przesyłu danych o publikacjach) – a w PBN zmiany punktacji wdrożono dopiero 26.06.2024.

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.