W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Artykuł

Pobierz BibTeX

Tytuł

Quasi-free-standing epitaxial graphene on 4H-SiC (0001) as a two-dimensional reference standard for Kelvin Probe Force Microscopy

Autorzy

[ 1 ] Instytut Fizyki, Wydział Inżynierii Materiałowej i Fizyki Technicznej, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Dyscyplina naukowa (Ustawa 2.0)

[2.8] Inżynieria materiałowa

Rok publikacji

2024

Opublikowano w

Applied Surface Science

Rocznik: 2024 | Tom: vol. 675

Typ artykułu

artykuł naukowy

Język publikacji

angielski

Słowa kluczowe
EN
  • Graphene
  • Epitaxy
  • CVD
  • SiC
  • Kelvin probe
  • Surface potential
  • Work function
  • Reference standard
Streszczenie

EN Kelvin Probe Force Microscopy is a method to assess the contact potential difference between a sample and the probe tip. It remains a relative tool unless a reference standard with a known work function is applied, typically bulk gold or cleaved highly oriented pyrolytic graphite. In this report, we suggest a verifiable, two-dimensional standard in the form of a photolithographically patterned, wire-bonded structure manufactured in the technology of transfer-free p-type hydrogen-intercalated quasi-free-standing epitaxial Chemical Vapor Deposition graphene on semi-insulating high-purity nominally on-axis 4H-SiC(0001). The particular structure has its hole density 𝑝𝑆 = 1.61 × 1013 cm−2 measured through a classical Hall effect, its number of the graphene layers 𝑁 = 1.74 extracted from the distribution of the ellipsometric angle 𝛹, measured at the angle of incidence AOI = 50◦ and the wavelength 𝜆 = 490 nm, and its work function 𝜙𝐺𝑅 = 4.79 eV postulated by a Density Functional Theory model for the specific 𝑝𝑆 and 𝑁. Following the algorithm, the contact potential difference between the structure and a silicon tip, verified at 𝛥𝑉𝐺𝑅−Si = 0.64 V, ought to be associated with 𝜙𝐺𝑅 = 4.79 eV and applied as a precise reference value to calculate the work function of an arbitrary material.

Strony (od-do)

160958-1 - 160958-7

DOI

10.1016/j.apsusc.2024.160958

URL

https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2024.160958

Typ licencji

CC BY (uznanie autorstwa)

Tryb otwartego dostępu

otwarte czasopismo

Wersja tekstu w otwartym dostępie

ostateczna wersja opublikowana

Czas udostępnienia publikacji w sposób otwarty

przed opublikowaniem

Punktacja Ministerstwa / czasopismo

140

Impact Factor

6,3 [Lista 2023]

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.